(1)测控系统的功能如下:

   ●按试验条件耍求调节加热功率,实现试IC42S16100E-6TL件表面温度的控制;

   ●测量试验室内的真空度和试件表面温度;

   ●控制真空系统、制冷系统和加热系统相关设备的启停。

   (2)测控系统组成。测控系统由真空测量仪、温度测量系统、功率调节器(调功器)、控制仪表和计算机等组成。

   (3)控制难点。如前所述,由于下述特点,在高真空环境中对试件表面温度的控制具有很大的难度。

   ●被控对象热辐射模型滞后时间长,非线性严重。

   ●温度控制点位于试件表面,在高真空热辐射环境下传热过程与试件表面的状态及材料有密切关系。由于试件的结构、形状、材料,以及热容量、热负荷的不同,其热辐射特性相差极大,造成温度系统被控对象的不确定性。对控制系统而言,具有大滞后、非线性及模型参数不确定特性的被控对象,很难获得较好的控制品质。

   (4)控制方式。一般来说,可以采用通用控制仪表或计算机对试件表面温度进行控制,控制算法可以使用常规PID算法。但是,通用控制仪表和常规PID算法难以克服如上所述的技术难点,控制效果常常不够好,需要辅以适当的人I干预,在试验过程中由操作人员根据实际情况和实践经验手动调整PID参数,以获得较好的控制特性。如果采用计算机控制,就可以通过采用自校正控制及广义预测控制等功能较强的算法有针对性地克服上述技术难点。