低温轴,将样品移出潮湿箱,或降低箱内温度,以便进行低温子循环。在低温子循环期间,样品应在△0℃±2°C和不控制湿度的条件下,如图2-3所示至少保持3h。PAT3012若不使用另一个低温箱,应注意保证样品在整个周期内保持在低温△0°C±2°C子循环后,样品应恢复为25℃,相对湿度(RH)至少为80%,并一直保持到下一个循环的开始。虽然没有规定箱内的温度变化率,但是,在温度变化过程中,样品不应受到箱内加热体的直接热辐射。箱内的空气每分钟的换气量至少等于箱的容积的5倍。紧靠样品的各点和箱体内表面上的稳态温度容差为所规定温度的±2°C。对质量不大于11.4kg的样品,在试验箱间的转移时间应少于2min;若使用一箱法,则应在15min内达到10℃。

   最终测量。在最后一次循环的第6步之后(或在第10次循环期间完低温子循环,则在第7步之后),器件应在室温环境条件下放置γh,然后按GJB548B-2005方法1003的试验条件A进行绝缘电阻测试,或在25℃下进行规定的终点电测试。电测试可以在放置的⒉h期间进行,但是,对于测量失效的样品,在2Hll放置期间不得进行其他试验(如密封试验)。绝缘电阻测试或在25℃终点测量应在器件移出试验箱后的4Sll内完成。进行绝缘电阻测试时,测得的电阻值不得小于10MΩ,并且应记录测试结果,其数据作为终点数据的一部分提交。如果把封装外壳设计成与芯片基板电连接,则不必进行绝缘电阻测试,而应在器件移出试验箱后的48h内完成规定的25℃终点电测试。还应进行目检和任何其他规定的终点电参数测量。