EUT外壳是否屏蔽不是通过CS测试所必需的条件,但EUT屏蔽可以提高其Cs抗扰性, JAN2N1711并降低处理问题的难度。另外,需进行CS测试的产品一般也必须同时进行辐射抗扰度(Rs)测试,而EUT的屏蔽可以极大地提高其RS抗扰性。为同时满足CS和RS要求,采用屏蔽是最佳选择。

   在对EUT电缆进行CS测试时,RFI注人点与EUT水平距离为0,1~0.3m。若该电缆在进入EUT接口处有合适滤波器,干扰难以直接通过该电缆进入EUT。若EUT为非屏蔽外壳,带RFI的电缆会通过辐射或感容耦合将干扰传入EUT内部。在测试频率高端,这种现象更明显:若出现此类问题,可采取在非金属外壳内部增加屏蔽层,或对EUT内部敏感电路局部屏蔽的方式来解决。同时,也不要忽略检查所使用滤波器的高频特性是否良好。

   对屏蔽或同轴线,RFI信号仅注入屏蔽层。若EUT为屏蔽外壳,在该电缆进入EUT处,屏蔽层与外壳连接,RFI会被引入外壳。若EUT为非屏蔽外壳,电缆的屏蔽层会在内部电路处连接,RFI很容易被引用内部电路。此时,可通过增加外壳屏蔽层来解决。当然,通过解决电缆屏蔽层的接地问题,不让屏蔽层上的干扰进人内部电路也是较好的选择。

  由于CS测试的RFI频率一般都不高,因此,对外壳的屏蔽效能要求不是特别严格,只要外壳各结构件电气连接良好,且外壳上没有大的孔、洞、缝隙即可。EUT若使用屏蔽外壳,外壳是否接地也很关键。若外壳不接地,电缆屏蔽层上RFI高频部分会通过屏蔽外壳与大地之间的分布电容耦合到大地,但RFI的低频部分和少部分高频分量依然存在,并对内部电路产生二次辐射和耦合,形成干扰。若外壳接地,这些干扰分量会通过接地线耦合到大地,从而避免了二次干扰的发生。若屏蔽外壳不能良好接地,则应尽量避免将RFI耦合到外壳上去。当然,若EUT及其所有端口均没有与大地构成回路,也可以让EUT完全浮地,以达到抑制干扰的目的。