耦合/去耦网络注入时, JAN1N6475US干扰信号通过电阻或电容直接注人到被测电缆上;电流钳注入时,干扰信号通过电流钳感性耦合注入到被测电缆上;直接注人时,干扰信号通过电阻注人到被测电缆的屏蔽层上。

   直接注人时,对于屏蔽电缆和同轴电缆,干扰仅注人到屏蔽层;对于非屏蔽电缆,干扰注人到电缆中每一芯线上。

   如图⒛-2所示,RFI可通过多条路径进人EUT,并对内部电路形成干扰。

   首先,RFI通过三类耦合装置注入EUT被测电缆,沿电缆通过设备外壳直接进人EUT内部。若该电缆为屏蔽电缆,且EUT为金属外壳,则干扰信号会部分分流到外壳;若接口处有滤波器,则部分干扰信号会被滤波器衰减,剩余干扰信号沿电缆进人EUT内部形成干扰。这是CS测试产生干扰的主要因素c其次,当对EUT一根电缆注入RΠ时,若邻近有其他电缆存在,则带有干扰的被测电缆会通过空间辐射和感应方式将RFI耦合到邻近电缆上,再沿邻近电缆进入EUT内部形成干扰。在EUT内部,被测电缆和相邻电缆和电路板上的电路也会同样发生干扰耦合。若EUT为非金属外壳,则还会出现外部被测电缆产生的干扰通过空间辐射和感容耦合进人内部电缆和电路的情况。空间辐射和耦合主要在试

频率的高端发生。