电子元器件参数的离散性较大
发布时间:2016/12/10 17:20:55 访问次数:709
在图2.1电路中,当流过偏置电阻R"和R田的电流远大于晶体管9013的基极电流Ⅰ:时(一般为5~10倍时),则晶体管的静态工作点可用下式估算交流输出电阻.
由于电子元器件参数的离散性较大,因此在MAX202IPWR设计和制作晶体管放大电路时,离不开测量和调试技术。在设计前应测量所用元器件的参数,为电路设计提供必要的依据,在完成设计和连接以后,还必须测量和调试放大器的静态工作点。一个正常工作的放大器,必定是理论设计与实验相结合的产物。囚此,除了学习放大器的理论知识和设计方法外,还必须掌握必要的测量和调试技术。
放大器的测量和调试一般包括:放大器静态工作点的测量与调试、消除干扰及放大器各项动态参数的测量与调试等。
在图2.1电路中,当流过偏置电阻R"和R田的电流远大于晶体管9013的基极电流Ⅰ:时(一般为5~10倍时),则晶体管的静态工作点可用下式估算交流输出电阻.
由于电子元器件参数的离散性较大,因此在MAX202IPWR设计和制作晶体管放大电路时,离不开测量和调试技术。在设计前应测量所用元器件的参数,为电路设计提供必要的依据,在完成设计和连接以后,还必须测量和调试放大器的静态工作点。一个正常工作的放大器,必定是理论设计与实验相结合的产物。囚此,除了学习放大器的理论知识和设计方法外,还必须掌握必要的测量和调试技术。
放大器的测量和调试一般包括:放大器静态工作点的测量与调试、消除干扰及放大器各项动态参数的测量与调试等。
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