位置:51电子网 » 技术资料 » 接口电路

寿命试验

发布时间:2016/9/1 20:58:01 访问次数:526

   寿命试验是用来考察产品寿命规律的试验,它是产品最后阶段的试验。寿命试F20V8C-15XC验是在试验条件下,模拟产品实际工作状态和储存状态,投入一定样品进行的试验。试验中要记录样品失效的时间,并对这些失效时问进行统汁分析.以汁估产品的可靠性、失效率、平均寿命等可靠性数据特征。

   寿命试验分为工作寿命试验和储存寿命试验内种:囚储存寿命试验的时问太长,通常采用工作寿命试验(叉称功率老化试验)c它是在给产品t卩上规定的I作电压条件下进行的试验c试验过程中应按技术条件规定,间隔一定时间进行参数.


   寿命试验是用来考察产品寿命规律的试验,它是产品最后阶段的试验。寿命试F20V8C-15XC验是在试验条件下,模拟产品实际工作状态和储存状态,投入一定样品进行的试验。试验中要记录样品失效的时间,并对这些失效时问进行统汁分析.以汁估产品的可靠性、失效率、平均寿命等可靠性数据特征。

   寿命试验分为工作寿命试验和储存寿命试验内种:囚储存寿命试验的时问太长,通常采用工作寿命试验(叉称功率老化试验)c它是在给产品t卩上规定的I作电压条件下进行的试验c试验过程中应按技术条件规定,间隔一定时间进行参数.


上一篇:气候试验

上一篇:故障捡修

相关技术资料
9-1寿命试验
9-1气候试验
相关IC型号
F20V8C-15XC
暂无最新型号

热门点击

 

推荐技术资料

耳机放大器
    为了在听音乐时不影响家人,我萌生了做一台耳机放大器的想... [详细]
版权所有:51dzw.COM
深圳服务热线:13751165337  13692101218
粤ICP备09112631号-6(miitbeian.gov.cn)
公网安备44030402000607
深圳市碧威特网络技术有限公司
付款方式


 复制成功!