寿命试验是可靠性试验中最重要、最基本的内容之一。它是将样品放在特走的试验条件下， APL5151-33-BC-TRL测量其失效（损耗）的数量随时间的分布情况。因为失效是按先后次序出现的，所以可利用次序统计量理论来分析寿命试验数据，从而可以确定产品的寿命特征、失效分布规律，计算产品的失效率和平均寿命等可靠性指标。此外，还可以从中确定产品合理的可靠性筛选工艺及条件，进一步改进保证产品质量的依据。

   寿命试验以试验项目来划分，可分为长期寿命试验和加速寿命试验，长期寿命试验又分为长期储存寿命试验和长期工作寿命试验，两者的不同点仅仅在于所加应力条件不同，其试验方法和数据处理是相同的。

   储存寿命试验是指模拟电子产品在规定环境条件下处于非工作状态时，评价其存放寿命的试验。试验周期在lOOOh以上的称为长期储存寿命试验。长期储存寿命试验将产品置于规定的环境条件下储存（只施加环境应力，不施加电应力），以确定储存寿命和失效率。环境条件要根据使用情况来定。我国疆域辽阔，环境条件差别很大，所以在确定环境条件时，一定要了解使用方对器件使用环境的要求。由于储存试验在非工作状态进行，电子产品一般失效率较低，寿命较长，需要抽出较多的样品进行较长的时间来做试验，周期长达3～5年或更长。通过试验所积累的数据，对于提高产品质量，预测产品的可靠性是很有价值的。

   工作寿命试验是指模拟电子产品在规定环境条件下，加上负荷使之处于工作状态时，评价其工作寿命的试验。试验周期在lOOOh以上的称为长期工作寿命试验。长期工作寿命试验将产品置于规定的工作条件（规定的环境条件和电应力条件，以模拟实际工作状态）下试验，以确定使用状态下的寿命值和失效率。如果没有特别指出工作条件，则选用产品技术标准的额定条件，所确定的是额定状态下的寿命值和失效率。