晶体管的参数fT。为了使HAT2050T用上的方便，一般将高频或超高频晶体管的频率参数都用fT和fm来表示，其中fT的使用最为普遍。

   当频率厂增加到一定程度时，卢就开始下降，当工作频率大于fp时，这时卢值与频率成反比，这就是通常称的卢以- 6dB/倍频下降规律。这时频率每升高1倍，p值就是原值的1／2，所以频率厂与对应的放大系数p的乘积是不变的，即f。p一常数，这个常数就是疗。

   根据这个关系式，我们便可以灵活地加以应用。以下举例说明它在晶体管测量中的应用。

   1)间接测量fT。对于一些高频或超高频管，fT相当高，往往在几百兆赫以上，如要直接测量fT则需用超高频仪器，因而给测试带来一定的困难。这时我们可以大致选择一个频率厂，使厂大于fp（根据所测管类型试选），测出该频率时的卢。目前不少测fT的仪器都采用这种方法。

   2)间接测量高频下的p值。业余爱好者在装电视机高频头时，需要了解晶体管在高频状态下的放大性能。一般经验是，最高工作频率时p>3，或者fT大于工作频率的3倍就基本合适。

   例如，要了解某一高频管在190MHz（电视8频道）时的放大倍数，我们可以先测出此管在较低频率fi（大于^的频率）时的p，再由fiPi= f2p2=常数(fT)，就可推算出f2=190MHz时的＆。

   例如，某高频管3DG56B在fi= 30MHz时测出J6l为46，屈一f卢l／f2一(30×46)／190≈7，该管符合使用要求。