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机器模型敏感度(MM)

发布时间:2016/11/13 19:12:17 访问次数:766

   机器模型的损害主要来源是能量迅速地从一个带电的导电体传输到器件的导电引脚。K4D263238D-QC50这个静电放电模型是20O pF的电容直接对50OnH的电感器放电,没有串联电阻。由于缺乏限制电流的串联电阻器,这个模型接近一个电压源。在现实中,这个模型代表了物体之间的迅速放电,譬如带电的电路板装置,带电的电线或一个自动测试的传导手臂。放电本身具有5~8纳秒上升时间和大约80纳秒周期的正弦衰减波形。机器模型是模拟实际的工业生产中,机械手上带电对芯片造成的影响,遵循的标准有EIAJ-IC-⒓l METHOD20,

EIA JESD22-A115-A(JEDEC,1997), EsD STλ江5,(EOS/ESD,1999)。

   带电器件模型敏感度(CDM)

  带电器件模型的损害主要来源是能量从一个带电器件迅速地释放。静电放电完全与器件相关,但器件与地电位面的相对距离,却能影响实际的失效水平该模型假定,当带电器件的导电管脚与具有较低的电位的导体表面接触时,会发生迅速放电。带电器件模型测

试标准的准备过程中的一个主要问题,是如何找到适当仪器测量放电过程。信号波形的上升时间经常是少于,O0微微秒。整个过程可能发生在少于2.0纳秒的时间里。虽然时间非常短,放电时电流却能达到几十安培的水平。与前面两个模型不同,CDM模型是设备带电,

然后放电。遵循的标准有EsD DS5.3.1。在我国LED行业中,目前大部分用人体放电模型作为对LED的抗静电放电性能的测试标准,一般只做500V,1000V,⒛00V的反向放电测试。这主要是为当前生产流程和包装过程中,工人与器件的接触是静电放电的主要来源。

   机器模型的损害主要来源是能量迅速地从一个带电的导电体传输到器件的导电引脚。K4D263238D-QC50这个静电放电模型是20O pF的电容直接对50OnH的电感器放电,没有串联电阻。由于缺乏限制电流的串联电阻器,这个模型接近一个电压源。在现实中,这个模型代表了物体之间的迅速放电,譬如带电的电路板装置,带电的电线或一个自动测试的传导手臂。放电本身具有5~8纳秒上升时间和大约80纳秒周期的正弦衰减波形。机器模型是模拟实际的工业生产中,机械手上带电对芯片造成的影响,遵循的标准有EIAJ-IC-⒓l METHOD20,

EIA JESD22-A115-A(JEDEC,1997), EsD STλ江5,(EOS/ESD,1999)。

   带电器件模型敏感度(CDM)

  带电器件模型的损害主要来源是能量从一个带电器件迅速地释放。静电放电完全与器件相关,但器件与地电位面的相对距离,却能影响实际的失效水平该模型假定,当带电器件的导电管脚与具有较低的电位的导体表面接触时,会发生迅速放电。带电器件模型测

试标准的准备过程中的一个主要问题,是如何找到适当仪器测量放电过程。信号波形的上升时间经常是少于,O0微微秒。整个过程可能发生在少于2.0纳秒的时间里。虽然时间非常短,放电时电流却能达到几十安培的水平。与前面两个模型不同,CDM模型是设备带电,

然后放电。遵循的标准有EsD DS5.3.1。在我国LED行业中,目前大部分用人体放电模型作为对LED的抗静电放电性能的测试标准,一般只做500V,1000V,⒛00V的反向放电测试。这主要是为当前生产流程和包装过程中,工人与器件的接触是静电放电的主要来源。

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