型号：FF600R12KE3
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在各种单片机应用系统中，芯片存储器的正常与否直接关系到该系统的正常工作。为了提高系统的可靠性，对系统的可靠性进行测试是十分必要的。通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法，并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。
一、 RAM测试方法回顾
方法1：一种测试系统RAM的方法是分两步来检查，先后向整个数据区送入#00H和#FFH，再先后读出进行比较，若不一样，则说明出错。
方法2：方法1并不能完全检查出RAM的错误，在参考文献中分析介绍了一种进行RAM检测的标准算法MARCH-G。MARCH一G算法能够提供非常出色的故障覆盖率，但是所需要的测试时间是很大的。MARCH-G算法需要对全地址空间遍历3次。设地址线为”根，则CPU需对RAM访问6×2n次。
方法3：一种通过地址信号移位来完成测试的方法。在地址信号为全O的基础上，每次只使地址线Ai的信号取反一次，同时保持其他非检测地址线 Aj(i≠j)的信号维持0不变，这样从低位向高位逐位进行;接着在地址信号为全1的基础上，每次只使地址线Ai的信号取反一次，同时保持其他非检测地址线Aj(i≠j)的信号维持1不变，同样从低位向高位逐位进行。因此地址信号的移位其实就是按照2K(K为整数，最大值为地址总线的宽度)非线性寻址，整个所需的地址范围可以看成是以全0和全1为背景再通过移位产生的。在地址变化的同时给相应的存储单元写入不同的伪随机数据。在以上的写单元操作完成后，再倒序地将地址信号移位读出所写入的伪随机数据并进行检测。设地址线为n根，则CPU只对系统RAM中的2n+2个存储单元进行访问。
FF225R12ME3FF300R12KE3
FF300R12KT3
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