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SN74BCT8240ADW详细规格: 类别：逻辑 - 专用逻辑; 描述：IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC; 系列：74BCT; 制造商：Texas Instruments; 逻辑类型：扫描测试设备，带反相缓冲器; 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V; 位数：8; 工作温度：0°C ~ 70°C; 安装类型：表面贴装; 封装/外壳：24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）; 供应商器件封装：24-SOIC; 包装：管件

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嵌入式 - 微控制器， Microchip Technology 44-TQFP IC MCU 8BIT 72KB FLASH 44TQFP
TLV3492AIDCNT
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SNT-100-BL-G
分路器，跳線 Samtec Inc CONN SHUNT 2POS
SN74LVC1G32DRLR
逻辑 - 栅极和逆变器 Texas Instruments SOT-553 IC SNGL 2IN POS-OR GATE SOT-5
SN74AHCT125QDRQ1
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逻辑 - 专用逻辑 Texas Instruments 24-DIP（0.300"，7.62mm） IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

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