型号:SN74BCT8374ADWE4
类别:逻辑 - 专用逻辑
制造商:Texas Instruments
封装:24-SOIC(0.295",7.50mm 宽)
描述:IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
系列:74BCT
逻辑类型:扫描测试设备,带 D 型边沿触发式触发器
电源电压:4.5 V ~ 5.5 V
位数:8
工作温度:0°C ~ 70°C
安装类型:表面贴装
封装__外壳:24-SOIC(0.295",7.50mm 宽)
供应商器件封装:24-SOIC
包装:管件
厂 商:TI [ TEXAS INSTRUMENTS ]
描 述:SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
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