LTC2157-14/
LTC2156-14/LTC2155-14
应用信息
交替位极性
可能减少对数字反馈另一特征
电路板的交替位极性模式。当此
模式被启用时，所有的奇数位（ D1，D3 ，D5， D7 ，D9，
D11 ， D13）的输出缓冲器之前被反转。偶数
位（ D0 ，D2，D4 ，D6， D8 ，D10， D12） ，作者和CLKOUT是
不受影响。这可以减少电路中的数字电流
板的接地层，减少数码噪点，尤其是
对于非常小的模拟输入信号。
的数字输出由反相解码在接收器
奇数位（ D1，D3 ，D5， D7 ，D9， D11 ，D13 ）的备用
位极性模式是独立于数字输出的随机
domizer ，要么两个或两个函数可以在上
同一时间。的交替位极性模式是通过使
串行编程模式控制寄存器A4。
数字输出测试模式
以允许在电路测试的数字接口的
A / D ，有几个测试模式，迫使A / D数据
输出（作者： D13至D0）为已知值：
,
全1 ：所有输出1
全部为0 ：所有的输出都为0
交替：输出从全1上更改为全0
交样品
棋盘：输出由101010101010101变更
为010101010101010的交替样本。
数字输出测试图案通过连续使
编程模式控制寄存器A4。当启用时，
在测试模式覆盖所有其他格式模式：
2的补码，随机数发生器，交替位极性。
输出禁用
数字输出可以通过串行编程禁用
明模式控制寄存器A3 。所有数字输出includ-
荷兰国际集团和CLKOUT被禁止。高阻抗
禁止状态被用于长时间不活动，
它不是设计用于复用的数据总线
多个转换器。
睡眠模式
A / D转换可置于休眠模式，以节省电力。
在睡眠模式下，整个的A / D转换器断电，
致使< 5mW的功率消耗。当编码
输入信号没有被禁用的功耗会
高（高达5MW的在250Msps的） 。睡眠模式启用
通过模式控制寄存器A1 （串行编程模式） ，
或者通过SCK （并行编程模式） 。
在串行编程模式下，也可以显示
能通道B同时使通道A的正常运行。
所需的时间从睡眠模式中恢复
取决于在V中的旁路电容器的大小
REF
。为
图1中的建议值， A / D转换后会稳定下来
为0.1ms + 2500 吨
p
其中T
p
是采样的时间
时钟。
打盹模式
在打盹模式下，A / D内核断电而
内部参考电路保持活跃，从而更快
唤醒。从休眠模式中恢复至少需要100
时钟周期。打盹模式是通过设置寄存器A1启用
在串行编程模式。
从休眠模式唤醒时间仅当有保证
时钟不停地奔跑，否则睡眠模式唤醒
条件适用。
器件编程模式
该LTC215X -14的操作模式可以是亲
通过编程或者并行接口或一个简单的串行
界面。串行接口具有更大的灵活性和
可以设定所有可用的模式。并行接口
是更有限，只能进行编程的一些更
常用的模式。
并行编程模式
使用并行编程模式， PAR / SER应
连接到V
DD
。该
CS ，
SCK和SDI引脚二进制逻辑
输入，设定一定的操作模式。这些引脚可
连接到V
DD
或接地，或由1.8V，2.5V ，或3.3V驱动
CMOS逻辑。表2示出了通过设置模式
CS ，
SCK
和SDI 。
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