ISLA112P50

四个LSB此寄存器（输出测试模式）确定

在组合的测试图案与寄存器通过0xC5 0xC2的。

请参见“SPI存储器映射”第28页。

表14.输出测试模式

价值

0000

0001

0010

0011

0100

0101

0110

0111

1000

为0xC0 [3：0 ]

输出测试模式

关闭

中间电平

正满量程

负满量程

棋盘

版权所有

版权所有

一/零

用户模式

0x8000

0xFFFF

0x0000

0xAAAA

不适用

不适用

0xFFFF

user_patt1

不适用

不适用

不适用

0x5555

不适用

不适用

0x0000

user_patt2

WORD 1

WORD 2

数字温度传感器

这组寄存器提供的数字访问一个IPTAT系

温度传感器，使系统以估计

温度的模具。这个信息是特别有意义的

对于应用程序不守I2E在Active运行状态时，

正常使用时，允许信息容易获得，可以是

用于决定何时需要重新校准A / D转换。这组

寄存器不包含在所述SPI存储器映射表。

此信息的最准确的使用需要知识

温度在该数字值是第一读

（时间= 0，T （0）= ℃，时间= 0时，和register_value （ 0）=在

的温度寄存器在时刻数字值= 0）。任何未来

读寄存器是指根据温度变化

等式4：

[

register_value(1)

]

–

[

register_value(0)

]

ΔT

=

T

(

1

)

–

T

(

0

)

= -------------------------------------------------------------------------------------------------------------

[ (

T

(

0

)

–

216

)

256

]

（公式4），

地址为0xC2 ： user_patt1_lsb

地址0xC3 ： user_patt1_msb

这些寄存器定义下部和上部8位

所述第一用户定义的测试字的分别。

评估温度变化一个不太准确的方法

并不要求在时间= 0的温度的知识，并

由下式给出方程（5） ：

[

register_value(1)

]

–

[

register_value(0)

]

ΔT

=

T

(

1

)

–

T

(

0

)

= -------------------------------------------------------------------------------------------------------------

(

-0.72

)

（当量5）

地址0XC4 ： USER_PATT2_LSB

地址0XC5 ： USER_PATT2_MSB

这些寄存器定义下部和上部8位

所述第二用户定义的测试字的分别。

数字温度传感器是AVDD的弱功能

供电电压，从而实现最佳的精度AVDD电源

电压应保持在整个操作相当恒定

温度范围。

访问此寄存器集的算法如下：

1.写0x80的值变址寄存器（ SPI地址为0x10 ）

2.写值均为0x88到SPI地址0x120打开

上的温度传感器。

3.阅读register_value最低有效位在SPI寄存器0x11E

4.阅读register_value最高位在SPI寄存器0x11F

5.写入值从0x60到SPI地址0x120打开

温度传感器关闭。

27

FN7604.2

2011年8月1日