位置：首页 > IC型号导航 > 首字符S型号页 > 首字符S的型号第1574页 > S29AL004D90BAI010 > S29AL004D90BAI010 PDF资料 > S29AL004D90BAI010 PDF资料2第39页
A D V A N权证
我N· R M一T I O 4 N
AC特性
表9 。
参数
JEDEC
t
AVAV
t
AVQV
t
ELQV
t
GLQV
t
EHQZ
t
GHQZ
性病
t
RC
t
加
t
CE
t
OE
t
DF
t
DF
t
OEH
描述
读周期时间（注1 ）
地址输出延迟
芯片使能到输出延迟
输出使能到输出延迟
芯片使能到输出高Z（注1 ）
输出使能到输出高Z（注1 ）
OUTPUT ENABLE
保持时间（注1 ）
读
切换和
数据＃投票
CE＃ = V
IL
OE ＃ = V
IL
OE ＃ = V
IL
测试设置
民
最大
最大
最大
最大
最大
民
民
民
读操作
速度
选项
70
70
70
70
30
25
25
0
10
0
90
90
90
90
35
30
30
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
t
AXQX
t
OH
输出保持时间从地址， CE ＃或OE ＃ ，
以先到为准（注1 ）
注意事项：
1.不100 ％测试。
2.见
图11 ，第35页
和
表8第35页
测试规范。
t
RC
地址
CE＃
t
OE
t
OEH
WE＃
高Z
输出
RESET＃
RY / BY ＃
输出有效
t
CE
t
OH
高Z
t
DF
地址稳定
t
加
OE ＃
0V
图13 。
读操作时序
2005年2月18日S29AL004D_00_A1
S29AL004D
37
