位置：首页 > IC型号导航 > 首字符I型号页 > 首字符I的型号第668页 > IR26-21C-L110-TR8 > IR26-21C-L110-TR8 PDF资料 > IR26-21C-L110-TR8 PDF资料1第8页
IR26-21C/L110/TR8
可靠性试验项目及条件
产品的可靠性，应满足下面列出的项目。
可信度： 90 ％
LTPD：10%
序号项目
测试条件
考试时间/样品
周期
SIZES
22pcs
22pcs
I
R
≧U×2
Ee≦L×0.8
V
F
≧U×1.2
U：上
规范
极限
L：低
规范
极限
失败
判断
准则
AC /回复
1回流焊接温度： 260 ℃±5℃ 6分钟
5secs
15分钟50Cycles
2温度循环H： + 100 ℃
5mins
L : -40℃
15mins
3热冲击
H :+100℃
L :-10℃
4高温
存储
5低温
存储
5分钟50Cycles
10secs
5mins
1000hrs
1000hrs
1000hrs
1000hrs
0/1
0/1
22pcs
0/1
TEMP.：+100℃
TEMP.：-40℃
22pcs
22pcs
22pcs
22pcs
0/1
0/1
0/1
0/1
6直流工作寿命我
F
=20mA
7高温/ 85 ℃ / 85 ％ R.H
高湿度
EVERLIGHT ELECTRONICS CO 。 ， LTD 。
设备编号： DTR- 026-163
HTTP ： \\\\ www.everlight.com
编制日期： 2005年8月26日
REV 2
第8页： 10
Jaine仔：编制
