集成
电路
系统公司
ICS8516
L
OW
S
KEW
, 1-
TO
-16
D
。微分
-
TO
-LVDS
LOCK
D
ISTRIBUTION
C
HIP
测试条件
最低
250
1.125
-10
-1
典型
400
1.4
最大
600
50
1.6
50
+10
+1
-5.5
-12
单位
mV
mV
V
mV
A
A
mA
mA
T
ABLE
4D 。 LVDS DC
极特
,
V
DD
= 3.3V ±5％ ，T
A
= 0°C
TO
70°C
符号
V
OD
Δ
V
OD
V
OS
Δ
V
OS
I
OZ
I
关闭
I
OSD
I
OS
/I
OSB
参数
差分输出电压
V
OD
幅度变化
失调电压
V
OS
幅度变化
高阻抗漏电流
关机泄漏
差分输出肖尔吨短路电流
输出肖尔吨短路电流
T
ABLE
5. AC - C
极特
,
V
DD
= 3.3V ±5％ ，T
A
= 0°C
TO
70°C
符号
f
最大
t
PD
t
SK （ O）
t
SK （PP）的
t
JIT
t
R
/t
F
ODC
t
PZL
, t
PZH
t
PLZ
, t
PHZ
参数
输出频率
传播延迟;注1
输出偏斜;注2： 4
帕吨至帕吨倾斜;注3，注4
缓冲添加剂相位抖动， RMS ;
参考相加相位抖动节
输出上升/下降时间
输出占空比
输出使能时间;注5：
输出禁止时间;注5：
积分范围：
12kHz的 - 20MHz的
20 ％至80％
1.6
2.0
测试条件
最低
典型
最大
700
2.4
90
500
148
100
45
50
550
55
5
5
单位
MH
ns
ps
ps
fs
ps
%
ns
ns
注1 ：从差动输入交叉点到差动输出交叉点测定。
注2 ：定义为输出之间的偏移，在相同的电源电压，并以相等的负载条件。
测得的输出差分交叉点。
注3 ：定义为扭曲在不同的设备输出，在相同的电源电压下工作的
并且以相同的负载条件。使用同一类型的每个设备上的输入，输出被测量
在差分交叉点。
注4 ：该参数定义符合JEDEC标准65 。
注5 ：这些参数由特性保证。在生产中测试。
8516FY
www.icst.com/products/hiperclocks.html
5
REV 。 B 2006年2月21日
