CoolSET-F2
功能说明
V
门
过载/加载OpenLoopwithNormal
FB
4.8V
失败
发现
5μs的消隐
约T =为130ns
5V
t
t
图20
内门上升斜率
软商品
5.3V
软启动阶段
3.8
保护单元（自动重新启动模式）
司机
T
Burst1
T
重新开始
t
过载，开环和过压检测
在保护单元内集成。这三个
失效模式是由一个错误锁存器锁存。另外
热关断是由错误锁存器锁存。如果
这些失效模式之后的错误，锁存器被置
5μs的消隐和的CoolMOS时间被关闭。
该消隐防止错误锁存器由扭曲
在操作模式引起的尖峰。
3.8.1
过载/开环与普通
负载
t
VCC
13.5V
8.5V
图21显示的情况下的自动重新启动模式
过载或开环的正常负荷。检测
开环或过载的由比较器提供的
C3，C4和与门G2的（参见图22）。该
检测是通过C 4激活时在引脚上的电压
软商品超过5.3V 。直到此时IC工作在
软启动阶段。此相位比较器C3的后
可以在发生开环或过载的设置错误，锁存器
这导致反馈电压V
FB
超过
门槛4.8V的。锁定后，一旦VCC下降到
8.5V和失活的集成电路。此时的外部
软启动电容由内部放电
晶体管T1由于掉电复位。当IC
未激活V
VCC
增大到V
CCON
= 13.5V收取
电容C
VCC
通过启动电阻的方法
R
启动
。那么错误，锁存器是由上电复位
复位和外部软启动电容C
软启动
is
由内部上拉电阻R充电
软启动
。中
软启动阶段从而结束时的电压
销软商品超过5.3V过载的检测和
开环由C3和G2是无效的。以这种方式开始
向上相位不被检测为过载。
t
图21
自动重新启动模式
6.5V
R
软启动
上电复位
软商品
C
软启动
5.3V
T1
4.8V
FB
R
FB
C4
G2
C3
错误锁存
6.5V
图22
FB-检测
版本2.8
15
2011年8月30日
