飞利浦半导体
UJA1065
高速CAN / LIN故障安全系统基础芯片
表26 ：特性
- 续
T
vj
=
40
°
C至+150
°
C，V
BAT42
= 5.5 V至52 V和V
BAT14
= 5.5 V至27 V，除非另有规定ED 。所有的电压都是
德音响定义相对于地面。正电流溢流到IC 。所有参数都保证在虚拟的结
温度范围设计。产品100％测试125
°
C对晶片级（预测试）的环境温度。套管
产品是100％ ，在25测试
°
C的环境温度（FI最终测试） 。这两种预测试和网络测试的最终使用相关测试
条件下，以覆盖特定网络连接编温度和电源电压范围。
符号
I
O（ SC ）
参数
短路输出
当前
条件
正常模式;
V
LIN
= V
BAT42
= 12 V;
V
TXDL
= 0 V ;吨<吨
TXDL （ DOM ）
;
LDC = 0
正常模式;
V
LIN
= V
BAT42
= 18 V;
V
TXDL
= 0 V ;吨<吨
TXDL （ DOM ）
;
LDC = 0
V
日（ DOM ）
V
日（ reces ）
V
日（ CEN ）
C
i
I
L
接收器占主导地位
状态
隐性接收机
状态
接收机门限
电压中心
输入电容
漏电流
V
LIN
= 0 V至18 V
V
BAT42
= 0 V
主动模式;
I
RTLIN
=
10 A;
V
BAT42
= 7 V至27 V
离线模式;
I
RTLIN
=
10 A;
V
BAT42
= 7 V至27 V
V
RTLIN
RTLIN负载调节工作模式;
I
RTLIN
=
10 A
to
10
毫安;
V
BAT42
= 7 V至27 V
RTLIN上拉电流工作模式;
V
RTLIN
= V
LIN
= 0 V
（T >吨
LIN （ DOM ）
)
离线模式;
V
RTLIN
= V
LIN
= 0 V
（T <吨
LIN （ DOM ）
)
I
LL
低电平泄漏
当前
离线模式;
V
RTLIN
= V
LIN
= 0 V
[T >吨
LIN （ DOM ）
]
进入软件
发展模式;
T
j
= 0
°C
50
°C
进入强制标准
模式;牛逼
j
= 0
°C
50
°C
R
（概率pd ）测试
下拉电阻
TEST引脚之间
GND
NORMAL模式; V
BAT42
= 7 V
至27 V
NORMAL模式; V
BAT42
= 7 V
至27 V
NORMAL模式; V
BAT42
= 7 V
至27 V
[2]
民
27
典型值
40
最大
60
单位
mA
40
<tbd>
<tbd>
mA
-
0.6
×
V
BAT42
0.475
×
V
BAT42
-
5
-
-
0.500
×
V
BAT42
-
-
0.4
×
V
BAT42
-
0.525
×
V
BAT42
10
+5
V
V
V
pF
A
LIN总线端接电阻连接;销RTLIN
V
RTLIN
RTLIN输出电压
V
BAT42
1.0
V
BAT42
1.2
-
V
BAT42
0.7
V
BAT42
1.0
0.65
V
BAT42
0.2
-
V
V
2
V
I
RTLIN （普）
150
60
35
A
150
60
35
A
10
0
+10
A
TEST输入;针测试
V
第（TEST）
输入阈值
电压
7
-
7.5
V
14
2
-
4
14.5
8
V
k
9397 750 14409
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版本01 - 2005年8月10日
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