恩智浦半导体
SAA7108AE ; SAA7109AE
HD- CODEC
18.测试信息
18.1边界扫描测试
该SAA7108AE ; SAA7109AE有内置的逻辑和2次5专用引脚支持
边界扫描测试，分别为编码器和解码部分，它允许板
测试无需特殊硬件（指甲） 。该SAA7108AE ; SAA7109AE如下
“ IEEE
标准。 1149.1 - 标准测试访问端口和边界扫描结构“
联合设置
恩智浦主持测试行动组（ JTAG ） 。
10个特殊的引脚测试模式选择（ TMSE和TMSD ） ，测试时钟
（ TCKe和TCKd ） ，测试复位（ TRSTe和TRSTd ） ，测试数据输入（ TDIE和TDId ）和
测试数据输出（ TDOe和TDOd ） ，其中，扩展名为' E'是指编码器部分，
扩展'D'是指在解码器的一部分。
边界扫描测试（ BST ） BYPASS功能， EXTEST ，来样， CLAMP和
IDCODE都支持;看
表242 。
有关JTAG BST -TEST详细情况可以
在特定网络阳离子“ IEEE发现
标准。 1149.1 “ 。
包含详尽的边界两个网络莱
在SAA7108AE的扫描描述语言（ BSDL ） ; SAA7109AE上可用
请求。
由SAA7108AE支持表242 BST指令; SAA7109AE
指令
绕行
描述
该强制性指令提供之间的最小长度串行路径（ 1位）
TDIE （或TDId ）和TDOe （或TDOd ）当该组件没有测试操作是
所需。
这种强制性指令允许的片外电路和电路板级测试
互连。
这种强制性指令可用于在采取的输入样本
组件的正常运转。它也可以用于预加载数据的值代入
边界扫描寄存器锁存输出。
当不是所有的IC都BST这个可选的指令是用于测试。这
指令的寻址旁路寄存器，而边界扫描寄存器在
外部测试模式。
这个可选指令提供信息上的组件制造商，
部件号和版本号。
EXTEST
样品
钳
IDCODE
边界扫描电路18.1.1初始化
一个集成电路的测试访问端口（ TAP）控制器应处于复位状态
（ TEST_LOGIC_RESET ）的IC时，在功能模式。这种复位状态也迫使
指令寄存器为一个功能指令，如IDCODE或旁路。
为了解决电复位，标准的特定网络上课的TAP控制器将被强制
异步的TEST_LOGIC_RESET国家通过设置TRSTe或TRSTd销
低。
SAA7108AE_SAA7109AE_3
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产品数据表
牧师03 - 2007年2月6日
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