与电流限制至50mA 。
陶瓷涂层保护/推力
“ AXIMAX ”
一般特定网络阳离子
工作电压：
轴向（ WVDC ）
C0G
50, 100, 200
X7R
25, 50, 100, 200, 250
Z5U
50, 100
径向（ WVDC ）
C0G
50, 100, 200, 500, 1k, 1.5k, 2k, 2.5k, 3k
X7R
25, 50, 100, 200, 250, 500, 1k, 1.5k, 2k, 2.5k, 3k
Z5U
50, 100
温度特性：
C0G 0 ± 30 PPM /°C， -55° C至+ 125°C （ 1 ）
X7R ±15 ％ -55° C至+ 125°C
Z5U
+ 22 ％ ， -56 ％，从+ 10 ° C至+ 85°C
电容容差：
C0G ±值为0.5pF ， ±1％ ， ±2％ ， ±5％ ，±10％ ， ± 20％的
X7R ± 10％ ， ± 20 ％，+ 80 ％/ 20％
Z5U
±20%, 80% / -20%
结构：
环氧树脂封装 - 符合阻燃测试要求
的UL标准94V- 0 。
高温焊锡 - 符合EIA RS - 198 ，方法302 ，
条件B （260℃ ，10秒）
导线材料：
标准：
100 ％雾锡（Sn ），镍（ Ni）的托板
和钢芯（ “TA”指定） 。
替代1 ：
60％的锡（Sn ） / 40 ％铅（Pb ）完成与铜
包钢芯铝绞线（简称“医管局”称号） 。
方案2 ：
60％的锡（Sn ） / 40 ％铅（Pb ），完成100 ％
铜芯（可与C-规范“HA”终止代码）
可焊性：
EIA RS - 198 ，方法301 ，焊锡温度： 230℃ ± 5 ℃。
停留时间在焊锡= 7 ±秒。
终端强度：
EIA RS - 198 ，方法303 ，条件A （ 2.2千克）
环境的
振动：
EIA RS - 198 ，方法304 ，条件D （ 10-2000Hz ; 20克）
冲击：
EIA RS - 198 ，方法305 ，条件I （ 100克）
寿命测试：
EIA RS - 198 ，方法201 ，条件D.
<200V
C0G - 额定电压的200 ％@ + 125°C
X7R - 额定电压为200 ％ + 125°C
Z5U - 额定电压为200 ％ + 85°C
>500V
C0G - 额定电压@ + 125°C
X7R - 额定电压@ + 125°C
帖子测试极限25°C为：
电容量变化：
C0G （ 200V ） - ± 3 ％或电容是0.25 pF ，以较高者为准。
C0G （ 500V ） - ± 3 ％或0.50pF ，以较大者为准。
X7R - ±初始值的20 ％（2）
Z5U - ±初始值的30 ％（2）
耗散因数：
C0G - 0.10 ％最大
X7R - ％最高2.5 （用于25V 3.5 ％ ）
Z5U - 4.0 ％最大
绝缘电阻：
C0G - 10克或100米 - 女，以较低者为准。
>1kV测试@ 500V 。
X7R - 10克或100米 - 女，以较低者为准。
>1kV测试@ 500V 。
Z5U - 1克或100米 - 女，以较低者为准。
防潮性：
EIA RS - 198 ，方法204 ，条件A （ 10次
不施加电压）。
帖子测试极限25°C为：
电容量变化：
C0G （ 200V ） - ± 3 ％或±电容是0.25 pF ，以较高者为准。
C0G （ 500V ） - ± 3 ％或± 0.50pF ，以较高者为准。
X7R - ±初始值的20 ％（2）
Z5U - ±初始值的30 ％（2）
耗散因数：
C0G - 0.10 ％最大
X7R - ％最高2.5 （用于25V 3.5 ％ ）
Z5U - 4.0 ％最大
绝缘电阻：
C0G - 10克或100米 - Fwhichever较少。
500V测试@额定电压， >500V测试@ 500V 。
X7R - 10克或100米 - 女，以较低者为准。
500V测试@额定电压， >500V测试@ 500V 。
Z5U - 1K米或100米 - 女，以较低者为准。
热冲击：
EIA RS - 198 ，方法202 ，条件B （ C0G & X7R ：
-55 ° C至125°C ） ;条件A （ Z5U ： -55°C至85°C ）
（ 1 ） 53 PPM -30 PPM /°C，在+ 25 ° C到-55°C ， + 60 PPM低于10pF的。
（ 2 ）， X7R和Z5U电介质表现出老化等特点;因此，它是非常
建议电容器被deaged 2小时，在150 ℃，并稳定
在室温下为电容测量48小时前进行的。
电动
电容@ 25 ° C：
在规定的公差和测试条件。
C0G -
>1000pF
1.0 VRMS @ 1 kHz的
1000pF的1.0 VRMS @ 1兆赫
X7R - 1.0 VRMS @ 1千赫（裁判时间：1,000小时）
Z5U - 1.0 VRMS @ 1 kHz的
耗散因数@ 25 ° C：
相同的试验条件下的电容。
C0G - 0.10 ％最大
X7R - ％最高2.5 （用于25V 3.5 ％ ）
Z5U - 4.0 ％最大
绝缘电阻@ 25 ° C：
EIA RS - 198 ，方法104 ，条件A <1kV
C0G - 100克或1000米 - 女，以较低者为准。
500V测试@额定电压， >500V测试@ 500V
X7R - 100克或1000米 - 女，以较低者为准。
500V测试@额定电压， >500V测试@ 500V
Z5U - 10 G或千M - 女，以较低者为准。
绝缘耐电压：
EIA RS - 198 ，方法103
250V测试@ 5秒250 ％额定电压
与电流限制至50mA 。
500V测试@ 150 ％额定电压的5秒钟
与电流限制至50mA 。
1000V测试@ 5秒， 120 ％额定电压
与电流限制至50mA 。
10
环境的
振动：
KEMET电子公司， P.O.盒5928 ，格林维尔，资深大律师29606 ， （ 864 ） 963-6300
