AT89C51RD2 / AT89C51ED2 QualPack
4.4
器件的可靠性
4.4.1工作寿命测试
AT89C51ED2测试结果总结于下表中。
LOT
A01948K
设备类型
AT89C51ED2
PLCC 44
测试说明
EFR动态寿命试验
LFR动态寿命试验
步
12h
48h
500h
1000h
结果
0/300
0/300
0/100
0/100
评论
4.4.2 ESD /闩锁
AT89C51ED2测试结果总结于下表中。
LOT
A01948
设备类型
AT89C51ED2
PLCC 44
测试说明
ESD - HBM型号
步
2000V
3000V
4000V
5000V
5.5v
50mW
结果
0/3
1/3
1/3
1/3
0/5
0/5
评论
MIL STD 883的2级
闭锁
过电压
功率注入
测试完成，在125°C
分类闭锁免费
4.4.3 FLASH和EEPROM数据保留和耐力自行车
AT89C51ED2测试结果总结于下表中。
LOT
A01948K
设备类型
AT89C51ED2
PLCC 44
测试说明
数据保留
编程/擦除
耐力自行车
编程/擦除
耐力自行车
步
500h
1000h
100kc
100kc
结果
0/50
0/50
0/30
0/30
32K用户内存
2K威刚内存
评论
18
第0版 - 2003年7月
