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SLWS211B - 2008年7月 - 修订2008年10月

注册地址

注册资料

SDATA

A7

A6

A5

A4

A3

A2

A1

A0

D7

D6

D5

D4

D3

D2

t

（ DH ）

D1

D0

t

（SCLK）

t

（ DSU ）

SCLK

t

（ SLOADS ）

t

（ SLOADH ）

SEN

RESET

T0109-01

图6.串行接口时序

串行接口时序特性

在25 ° C，分在整个温度范围内的典型值和最大值

T

民

= -40°C至T

最大

= 85°C ， AVDD = 3.3V ， DRVDD = 1.8V ，除非另有说明。

参数

f

SCLK

t

SLOADS

t

SLOADH

t

DS

t

DH

SCLK的频率（= 1 / TSCLK ）

SEN到SCLK建立时间

SCLK为SEN保持时间

SDATA建立时间

SDATA保持时间

民

> DC

25

25

25

25

典型值

最大

20

单位

兆赫

ns

ns

ns

ns

串行寄存器读出

该装置包括其中的内部寄存器中的内容可以被读回一个选项。这可能是有用的

作为一个诊断检查，以验证外部控制器和ADC之间的串行接口进行通信。

一。首先，设置寄存器位<SERIAL READOUT> = 1，这也禁止任何进一步的写入寄存器

（除寄存器位<SERIAL READOUT>本身） 。

B 。发起一个串行接口周期指定寄存器（ A7- A0），其内容已经被读取的地址。

。该装置输出OVR_SDOUT销上所选择的寄存器的内容（ D7-D0 ） 。

。外部控制器可以在SCLK的下降沿锁存器的内容。

。为了使能寄存器写入，复位寄存器位<SERIAL READOUT> = 0 。

2008 ，德州仪器

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