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ADS1294 ， ADS1294R
ADS1296 ， ADS1296R
ADS1298 ， ADS1298R
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SBAS459G
–
2010年1月
–
经修订的2011年2月
CONFIG2 ：配置寄存器2
地址= 02H
第7位
0
第6位
0
第5位
WCT_CHOP
4位
INT_TEST
第3位
0
第2位
TEST_AMP
第1位
TEST_FREQ1
位0
TEST_FREQ0
配置寄存器2配置测试信号生成。见
输入多路复用器
更多的细节部分。
位[ 7：6]
第5位
必须始终设置为“0”
WCT_CHOP ： WCT斩波方案
这个位决定WCT放大器的斩波频率是可变的还是固定的。
0 =斩波频率的变化，看
表13
1 =斩波频率恒定在f
MOD
/16
4位
INT_TEST ：测试源
该位决定源测试信号。
0 =测试信号被外部驱动（默认）
在内部生成1 =测试信号
第3位
第2位
必须始终设置为“0”
TEST_AMP ：测试信号幅度
这些位确定校准信号幅度。
0 = 1
× - （ VREFP -
VREFN ） /2.4mV （默认）
1 = 2
× - （ VREFP -
VREFN)/2.4mV
比特[1：0 ]
TEST_FREQ [ 1：0] ：测试信号的频率
这些位确定校准信号频率。
00 =脉冲在f
CLK
/2
21
（默认）
01 =脉冲在f
CLK
/2
20
10 - 未使用
11 =在DC
2010-2011年，德州仪器
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