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数据表
电能质量测量
过零检测
ADE7880
具有过零( ZX)检测在所述电路
相电流和电压通道。中性线电流数据
路径不包含一个过零检测电路。零
穿越事件被用作各种电源质量的时基
测量和校准过程。
LPF1的输出被用来产生零交叉事件。
低通滤波器的目的是消除所有谐波
50 Hz和60 Hz系统,并帮助确定过零
在两个电流的基波分量的事件和
电压通道。
数字滤波器有一个极点,在80赫兹的时钟频率为256千赫。
作为一个结果,存在对模拟输入信号之间的相位滞后
(IA ,IB,IC ,VA,VB和VC中的一个)和LPF1的输出。
在ZX检测误差是0.0703 °, 50赫兹系统( 0.0843 °
为60赫兹系统)。 LPF1的相位滞后响应导致
大约31.4 °或1.74毫秒之间(在50赫兹)的时间延迟
其输入和输出。的零交叉之间的总延迟
在获得后LPF1是模拟量输入和ZX检测
约39.6 °或2.2毫秒(50赫兹) 。 ADC和HPF介绍
附加延迟。该LPF1不能被禁止,以保证一
良好的分辨率的ZX检测。图50显示了如何将
被检测到的过零信号。
IA,IB ,IC
OR
VA, VB,VC
PGA
DSP
参考
HPFEN位
增益[23:0 ] CONFIG3 [0]
ZX
发现
ADE7880
清除且IRQ1引脚置为高电平通过写STATUS1
寄存器的状态位设置为1 。
过零超时
每过零检测电路具有一个相关联的超时
注册。这个寄存器中装入写入的值
16位ZXTOUT注册和递减( 1 LSB )的每
62.5微秒( 16 kHz时钟) 。该寄存器复位到ZXTOUT
值被检测到的零交叉的每一次。的默认值
该寄存器为0xFFFF 。如果超时寄存器递减到0
过零检测前,位之一[8 : 3]的STATUS1
寄存器被设置为1的位3( ZXTOVA ) , 4位( ZXTOVB ) ,和第5位
( ZXTOVC )在STATUS1寄存器是指A相, B相,
和电压通道的C相; 6位( ZXTOIA ) ,第7位
( ZXTOIB ) ,和第8位( ZXTOIC )在STATUS1寄存器参考
对A相, B相,和当前通道的C相。
如果一个ZXTOIx或ZXTOVx位在MASK1寄存器置位,则
IRQ1中断引脚被拉低时,相应的状态位
被设置为1的状态位被清除, IRQ1引脚被返回到
高通过写入STATUS1寄存器的状态位设置为1 。
在ZXOUT寄存器的分辨率为62.5微秒( 16 kHz时钟)
每LSB 。因此,对于一个中断的最大超时周期是
4.096秒: 2
16
/ 16千赫。
图51示出了过零超时机制
检测时的电压或电流信号保持在一个固定的
直流电平超过62.5微秒× ZXTOUT微秒。
16位内部
寄存器的值
ZXTOUT
ADC
HPF
LPF1
1
0.855
39.6 °或2.2ms @ 50Hz的
0V
IA, IB,IC,在
OR
VA, VB,VC
ZX
ZX
ZX
ZX
10193-025
LPF1输出
电压
OR
当前
信号
0V
图50.过零检测的电压和电流通道
以提供从噪声进一步保护,输入信号为
与振幅低于10%的满刻度电压做通道
不会产生过零事件的。电流通道ZX
检测电路被激活对所有输入信号无关的
振幅。
ADE7880
包含六个过零检测电路,单
每相的电压和电流通道。每个驱动器电路
一面旗帜,在STATUS1寄存器。如果一个电路放置在相
电压通道检测到一个过零事件,第9位( ZXVA )
在STATUS1寄存器被设置为1 。
同样地, B相电压电路的驱动器的位10 ( ZXVB ),则
C相电压电路驱动11位( ZXVC )和电路放置
在当前的信道驱动器位12 ( ZXIA ) , 13位( ZXIB ) ,和
14位( ZXIC )在STATUS1寄存器。如果ZX检测位
在MASK1寄存器中设置,将IRQ1中断引脚被拉低
和相应的状态标志被设置为1的状态位是
ZXZOxy标志
STATUS1 [ 31 : 0 ] , X = V,A
Y = A,B ,C
10193-026
IRQ1中断引脚
图51.零超时检测
相序检测
ADE7880
有片相位序列的错误检测
电路。这种检测工作于相电压,并认为
仅由所确定的过零点的负到正
转场。这些零事件的正常接班
相A后跟相B,接着通过阶段C (参见图53)。
如果过零事件的顺序是相反, A相跟着
通过C相后B相,那么19位( SEQERR )在
STATUS1寄存器被置位。
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