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恩智浦半导体
ADC1213D系列
双通道12位ADC ; JESD204A串行接口
表23.寄存器测试模式1 （地址0014H ）
默认值被突出显示。
位
7至3
2比0
符号
-
TESTPAT_1 [2 ：0]的
ACCESS
-
读/写
000
001
010
011
100
101
110
111
表24.寄存器测试模式2 （地址0015h ）
默认值被突出显示。
位
7到0
符号
TESTPAT_2 [11： 4]
ACCESS
读/写
价值
描述
00000000定制的数字测试码（ 11位4 ）
价值
00000
描述
未使用
数字测试模式：
关闭
中等规模
FS
+ FS
切换“ 1111..1111 '/' 0000..0000 ”
定制的测试图案，被写在寄存器0015h和0016h
‘010101...’
‘101010...’
表25.寄存器测试模式3 （地址0016h ）
默认值被突出显示。
位
7个
3比0
符号
TESTPAT_3 [3 ：0]的
-
ACCESS
读/写
-
价值
0000
0000
描述
定制的数字测试码模式（位3 0）
未使用
11.6.4 JESD204A数字控制寄存器
表26. Ser_Status （地址0801h ）
默认值被突出显示。
位
7
6个
3比2
1
0
符号
RXSYNC_ERROR
保留[2：0 ]
-
POR_TST
版权所有
ACCESS
R
-
-
R
-
价值
0
010
0
1
-
描述
设置为1 ，当发生同步错误
版权所有
未使用
上电复位
版权所有
表27. SER_Reset （地址0802h ）
默认值被突出显示。
位
7
6个
3
2比0
符号
SW_RST
-
FSM_SW_RST
-
ACCESS
读/写
-
读/写
-
价值
0
000
0
000
描述
启动JESD204Aunit的软件复位
未使用
发起的内部状态机的软件复位
JESD204A单位
未使用
ADC1213D_SER
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产品数据表
启示录6 - 2011年2月9日
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