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SN54BCT8240A ， SN74BCT8240A
扫描测试设备
八进制反相缓冲器
SCBS067E - 1990年2月 - 修订1996年12月
终端功能
终奌站
名字
1A1–1A4,
2A1–2A4
GND
10E， 2OE
描述
正常功能的数据输入。见正常模式逻辑函数表。内部上拉迫使这些输入为高电平，如果
悬空。
地
正常功能输出使能输入。见正常模式逻辑函数表。内部上拉迫使这些输入到高
如果水平悬空。
测试时钟。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。该装置的测试操作是同步的，以
TCK 。捕获数据在TCK的上升沿和输出在TCK的下降沿发生变化。内部上拉的力量
TCK为高电平，如果悬空。
测试数据输入。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDI是通过移动数据的串行输入
指令寄存器或选定的数据寄存器。内部上拉的力量TDI为高电平，如果悬空。
测试数据输出。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDO是将数据串行输出
通过指令寄存器或选定的数据寄存器。一个内部上拉力的TDO到高电平时，它是不活跃
并且不从外部源来驱动。
测试模式选择。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TMS通过指示装置，其
TAP控制器的状态。一个内部上拉力量TMS为高电平，如果悬空。 TMS还提供了可选的测试
重置IEEE标准1149.1-1990的信号。这是通过识别第三逻辑电平，双高（ VIHH ） ，在TMS实施。
电源电压
正常功能的数据输出。见正常模式逻辑函数表。
TCK
TDI
TDO
TMS
VCC
1Y1–1Y4,
2Y1–2Y4
4
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
