ESD容差
该
SP3223E/3243E
系列采用
坚固耐用的ESD细胞上的所有驱动器输出和
接收器输入管脚。该ESD结构
改善了我们以前的家人更多
坚固耐用的应用和环境敏感
对静电放电和相关
瞬变。改进的ESD容差为
至少+ 15千伏无损坏，也不闭锁。
有ESD测试的不同的方法
应用：
一） MIL -STD- 883 ，方法3015.7
B） IEC1000-4-2气隙放电
C） IEC1000-4-2直接联系
正常使用。该收发器IC接收最
ESD电流时的ESD源
施加到连接器插针。该测试电路为
IEC1000-4-2示于
图26 。
有
在IEC1000-4-2 ，空气两种方法
放电法和接触放电
方法。
与空气放电法，静电放电电压
下测试被施加到该设备（EUT ）
在空气中。这模拟带电
人准备的电缆连接到背面
该系统只觉得一股难闻ZAP只是
该人之前接触后面板。该
对人放电的高能量势
通过电弧放电路径的后面板
系统之前，他或她甚至接触到系统中。
这种能量，无论是直接排放或
通过空气，是主要的功能
放电电流，而不是排
电压。用空气排出，如变量
物体的接近速度实现ESD
潜在的系统和湿度将趋于
改变放电电流。例如，该
上升的放电电流的时间变化的
进场速度。
接触放电法通过将ESD
目前直接向EUT 。此方法是
设计以降低的不可预见性
ESD电弧。放电电流的上升时间是
由于能量常数被直接传送
无气隙弧。在这样的情况下，
手持系统，防静电充电，可直接
从一个人已经排出到设备
拿着设备。目前被传送
上的小键盘或设备的串行端口
直接再穿过PCB和最后
给IC 。
R
S
R
S
人体模型已普遍
接受ESD测试方法半导体。
该方法在MIL -STD- 883也被指定，
方法3015.7的ESD测试。的前提下，
这种ESD测试是模拟人体的
潜在存储静电能量和
其排出到一个集成电路。该
模拟是通过使用一个测试模型进行
所示
图25 。
这个方法将测试
IC的能力承受ESD瞬变
在正常操作期间，例如在制造
其中，集成电路趋向领域被频繁操作。
在IEC- 1000-4-2 ，以前称为IEC801-2，
一般用于ESD测试设备和
系统。对于系统制造商，他们必须
保证一定量的ESD保护
由于系统本身被暴露到外部
环境和人类的存在。前提
使用IEC1000-4-2是，该系统是必需的
承受的静电时的量
静电施加点和表面
设备可访问的过程中人员
R
C
R
C
SW1
SW1
直流电源
来源
SW2
SW2
C
S
C
S
设备
下
TEST
图25. ESD测试电路（人体模式）
牧师02年11月14日
SP3223E + 3.0V至+ 5.5V的RS - 232收发器
2002 Sipex的公司
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