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512 Kbit的SPI串行闪存
SST25VF512
数据表
表10 ：v
ELIABILITY
C
极特
符号
N
END1
T
DR1
I
LTH
1
参数
耐力
数据保留
闭锁
最小规格
10,000
100
100 + I
DD
单位
周期
岁月
mA
测试方法
JEDEC标准A117
JEDEC标准A103
JEDEC标准78
T10.1 1192
1.该参数仅在初步认证和设计或工艺变更可能影响该参数进行测量。
表11 ： AC
操作摄像机
C
极特
V
DD
= 2.7-3.6V
范围
符号
F
CLK
T
SCKH
T
SCKL
T
SCKR
T
sckf
T
CES1
T
CEH
1
参数
串行时钟频率
串行时钟高电平时间
串行时钟低电平时间
串行时钟的上升时间
串行时钟下降时间
CE＃智能安装时间
CE＃有效保持时间
CE＃不主动设置时间
CE＃不主动保持时间
CE＃高电平时间
CE＃高到高阻输出
SCK低到低Z输出
数据建立时间
数据保持时间
HOLD ＃低建立时间
HOLD ＃高建立时间
HOLD ＃低保持时间
HOLD ＃高保持时间
HOLD ＃低到输出高阻态
HOLD ＃高至低阻抗输出
从SCK变化输出保持
输出有效期从SCK
扇区擦除
块擦除
芯片擦除
字节编程
民
20
20
最大
20
单位
兆赫
ns
ns
5
5
20
20
10
10
100
20
0
5
5
10
10
15
10
20
20
0
20
25
25
100
20
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ms
ms
ms
s
T11.15 1192
T
CHS1
T
CHH1
T
CPH
T
CHZ
T
CLZ
T
DS
T
DH
T
HLS
T
HHS
T
HLH
T
HHH
T
HZ
T
LZ
T
OH
T
V
T
SE
T
BE
T
SCE
T
BP
1.相对于SCK 。
2005硅存储技术公司
S71192-09-000
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