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ULN2004
测试电路
1. I
泄漏
开放
线性集成电路
2. V
CEO （ SAT ）
， hFE参数
开放
I
泄漏
I
IN
开放
I
OUT
V
CE
V
IN
V
IN
V
CE
,
V
CEO （ SAT ）
※的hFE
I
OUT
I
IN
3. I
IN（上）
开放
4. I
中（关闭）
开放
I
OUT
I
IN（上）
开放
I
中（关闭）
V
IN
5.
V
IN（上）
开放
I
OUT
6. I
R
I
R
开放
V
R
V
IN（上）
V
CE
开放
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QW-R113-008.B
