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FlashFlex51 MCU
SST89E52RD2 / RD / SST89E54RD2 / RD / SST89E58RD2 / RD
SST89V52RD2 / RD / SST89V54RD2 / RD / SST89V58RD2 / RD
数据表
表14-2：可靠性特性
符号
N
END1
T
DR1
I
LTH
1
参数
耐力
数据保留
闭锁
最小规格
10,000
100
100 + I
DD
单位
周期
岁月
mA
测试方法
JEDEC标准A117
JEDEC标准A103
JEDEC标准78
T14-2.0 1255
1.该参数仅在初步认证和设计或工艺变更可能影响该参数进行测量。
表14-3 ：测试的交流条件
输入上升/下降时间。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 10纳秒
输出负载。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。
L
= 100 pF的
参见图14-8和14-10
T14-3.0 1255
表14-4 ：建议的系统上电时序
符号
T
PU-READ1
T
PU-WRITE1
参数
上电到读操作
上电到写操作
最低
100
100
单位
s
s
T14-4.0 1255
1.此参数的测量只为最初的资格和设计或工艺变更可能影响该参数后，
表14-5 ：引脚阻抗
(V
DD
= 3.3V ，T
A
= 25 ° C，F = 1 MHz，其他引脚开路）
参数
C
I/O1
C
IN1
L
PIN2
描述
I / O引脚的电容
输入电容
引脚电感
测试条件
V
I / O
= 0V
V
IN
= 0V
最大
15 pF的
12 pF的
20 nH的
T14-5.0 1255
1.该参数仅在初步认证和设计或工艺变更可能影响该参数进行测量。
2.请参阅PCI规范。
2006硅存储技术公司
S71255-05-000
5/06
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