JTAG接口
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JTAG接口
联合测试行动组（JTAG ）是一项IEEE标准，它定义了一个测试访问端口和
边界扫描架构的数字集成电路，并提供了一个标准的串行接口
用于控制相关的测试逻辑。 TAP，指令寄存器（IR ）和数据寄存器（ DR ）
可以用来测试组合印刷电路板的互连和获取制造
上的组件的信息。 JTAG端口还提供了访问和控制的一种手段
设计用于测试功能，如I / O管脚的观察和控制，扫描测试以及调试。
JTAG端口由5个标准的引脚：
TRST ， TCK ， TMS ， TDI ，
和
TDO 。
数据
串行地发送到控制器上的
TDI
和移出控制器上
TDO 。
解释
这个数据是取决于TAP控制器的当前状态。有关的详细信息。
JTAG端口和TAP控制器的操作，请参考
IEEE标准1149.1-测试
访问端口和边界扫描结构。
在Luminary Micro JTAG控制器是与内置到Cortex -M3的ARM JTAG控制器
核心内容。这是通过复用所实现的
TDO
这两个JTAG控制器的输出。 ARM JTAG
指令选择ARM
TDO
输出，同时Luminary Micro JTAG指令选择Luminary
微
TDO
输出。多路复用器由Luminary Micro JTAG控制器控制，它的控制
综合编程的ARM ， Luminary Micro和未执行的JTAG指令。
JTAG模块具有以下特点：
■
IEEE 1149.1-1990兼容的测试访问端口（ TAP）控制器
■
4位指令寄存器（IR ）链，用于存储JTAG指令
■
IEEE标准指令：
–
BYPASS指令
–
IDCODE指令
–
SAMPLE / PRELOAD指令
–
EXTEST指令
–
INTEST指令
■
ARM附加说明：
–
APACC指令
–
DPACC指令
–
ABORT指令
■
集成的ARM串行线调试（ SWD ）
见
ARM Cortex-M3技术参考手册
有关ARM JTAG更多信息
控制器。
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初步
2007年11月29日
