JTAG接口
12.
释放
RST
信号。
JTAG到SWD和SWD到JTAG的切换序列中描述的“ ARM串行线调试
第54页（ SWD）“在为恢复调试的执行切换序列
该装置的功能，只执行步骤1和2中的切换序列的需要被执行。
5.2.4.2
ARM串行线调试（ SWD ）
为了无缝集成ARM串行线调试（ SWD ）功能，串行线
调试器必须能够与Cortex -M3内核，而无需执行，或有任何
知识， JTAG周期。这是通过前发出SWD前导码
SWD会话开始。
用来启用SWJ -DP模块SWD接口的前导码与TAP控制器
在Test - Logic-Reset状态。从这里出发，前导码将依次通过TAP控制器
以下状态：运行测试空闲，选择DR ，选择IR ，测试逻辑复位，测试逻辑复位，运行测试
空闲，运行测试空闲，选择DR ，选择IR ，测试逻辑复位，测试逻辑复位，运行测试空闲，运行
测试空闲，选择DR ，选择IR和测试逻辑复位状态。
通过TAP状态机的此序列将启用SWD接口并禁用
JTAG接口。有关该操作和SWD接口的详细信息，请参阅
ARM
Cortex-M3技术参考手册
和
ARM CoreSight技术参考手册。
因为这个序列是一系列有效的JTAG操作，可发出的，所以ARM JTAG
TAP控制器不能完全符合
IEEE标准1149.1 。
这是唯一的实例，其中
所以ARM JTAG TAP控制器不符合完全符合规范。由于低
这个序列TAP控制器的正常运行期间发生的概率，它不应该
影响JTAG接口的正常执行。
JTAG到SWD切换
从JTAG切换调试访问端口（ DAP ）的操作模式为SWD模式时，
外部调试硬件必须发送一个切换序列的设备。 16位切换序列
切换到SWD模式被定义为b1110011110011110 ，先发送LSB 。这也可以
首先发送LSB时，可以表示为16'hE79E 。完整的切换序列应该
包括对下列交易
TCK / SWCLK
和
TMS / SWDIO
信号：
1.
发送至少50
TCK / SWCLK
与周期
TMS / SWDIO
设置为1 。这确保了JTAG和
SWD都处于复位/空闲状态。
2.
发送16位JTAG到SWD切换序列， 16'hE79E 。
3.
发送至少50
TCK / SWCLK
与周期
TMS / SWDIO
设置为1，这样可以确保当SWJ -DP是
已经处于SWD模式，在发送切换序列之前，社署进入线复位
状态。
SWD到JTAG切换
从SWD切换调试访问端口（ DAP ）的操作模式为JTAG模式下，
外部调试硬件必须发送一个切换序列的设备。 16位切换序列
切换到JTAG模式被定义为b1110011110011110 ，先发送LSB 。这也可以
首先发送LSB时，可以表示为16'hE73C 。完整的切换序列应该
包括对下列交易
TCK / SWCLK
和
TMS / SWDIO
信号：
1.
发送至少50
TCK / SWCLK
与周期
TMS / SWDIO
设置为1 。这确保了JTAG和
SWD都处于复位/空闲状态。
54
初步
2007年6月4日
