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ISL54503
测试电路和波形
（续）
V+
V+
C
信号
发电机
r
ON
= V
1
/I
1 *
NO或NC
C
NO或NC
V
NX
IN
V
1
0V或V +
I
1
100mA
IN
V
INL
或V
INH
分析仪
R
L
COM
GND
*
I = 10毫安在V + = 1.8V
1
COM
GND
图4.关断隔离测试电路
V+
C
图5.
ON
测试电路
V+
C
50Ω
NO或NC
COM
NO或NC
IN
IN
1
0V或V +
信号
发电机
阻抗
分析仪
COM
分析仪
R
L
NC或NO
GND
GND
V
INL
或V
INH
图6.串扰测试电路
图7.电容测试电路
详细说明
该ISL54503是一个双向，单刀/双
掷（ SPDT）模拟开关，提供精确的
切换功能从单一1.8V至5.5V电源
具有低导通电阻（ 2.5Ω ）和高速
操作（T
ON
= 25ns的，T
关闭
= 15ns的） 。该装置是
特别适合便携式电池供电的
设备，由于其较低的工作电源电压
（ 1.8V ） ，低功耗（ 0.15μW ），低
漏电流（ 300nA的最大值） ，并在小μTDFN
和SOT- 23封装。低导通电阻且r
ON
平坦性提供了非常低的插入损耗和失真
到的应用程序，要求信号的再现。
寄生SCR结构开启，营造出低
来自V +电源到地阻抗路径。
这将导致在一个显著量的电流流动的
集成电路，它有可能创造一个闩锁状态或
永久损坏IC 。外部V +电阻
在这个过度应力的情况的电流限制和
已经发现，以防止闩锁或破坏性
伤害了许多过压瞬态事件。
在正常操作下，该子微安我
DD
IC的电流产生一个很小的电压降
整个100Ω串联电阻产生任何影响
切换操作或性能。
外部V +系列电阻器
为了提高ESD和闩锁免疫性Intersil公司
建议增加串联在一个100Ω的电阻
该ISL54050 IC的V +电源引脚
（参见图8） 。
在过压瞬态事件（例如发生
在系统级IEC 61000 ESD测试） ，基板
电流可在IC中产生任何可触发
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FN6551.2
2009年10月26日
