BD52 □□ G， BD52 □□ FVE ， BD53 □□ G， BD53 □□ FVE系列
电路的应用
1）共用电源检测复位电路的实例
技术说明
V
DD1
R
L
BD52□□□
C
T
C
L
（噪音过滤
电容器）
）
V
DD2
的BD52 □□ G / FVE系列的应用实例（开放
漏极开路输出型）和BD53 □□ G / FVE系列（ CMOS
输出类型）如下所示。
微控制器
GND
图18集电极开路输出型
CASE1 ：单片机的电源（ VDD2 ）
不同于所述复位检测电源
(VDD1).
使用连接在漏极开路输出型（ BD52 □□ G / FVE ）
输出和VDD2之间的负载电阻（RL） 。 （如
图15所示）
V
DD1
CASE2 ：单片机的电源（ VDD1 ）是
相同的复位检测（ VDD1 ）电源。
使用CMOS输出型（ BD53 □□ G / FVE ）或漏极开路
输出型（ BD52 □□ G / FVE ）连接一个负载电阻
输出和VDD1之间（RL） 。 （如图16所示）
BD53□□□
C
T
C
L
（噪音过滤
电容器）
微控制器
当电容CL噪声滤波连接
VOUT引脚（的复位信号输入端
微控制器） ，请考虑到的波形
输出电压（ VOUT ）的兴衰。
GND
图19 CMOS输出类型
2 ）下面是一个电路应用的一个例子，其中两种类型的检测电压之间的OR连接
单片机复位。
V
DD1
V
DD2
V
DD3
R
L
BD52□□□
NO.1
C
T
C
T
BD52□□□
NO.2
R
ST
微控制器
GND
Fig.20
当有该系统的许多电源，电源VDD1和VDD2正在分别进行监测，并且它是
需要复位微型计算机，它有可能使用对漏极开路输出型BD52 □□ G / FVE一个OR连接
串联到上拉至所需的电压（ VDD3 ） ，如图17所示，使输出“高”电压的功率相匹配
微控制器的电源电压VDD3 。
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