3.重命名和更新的“片上调试系统”
“JTAG接口和片
调试系统“第46页。
4.更新
表18 48页
和
表19 50页。
5.更新
“测试访问端口 - TAP ” 197页
关于JTAGEN 。
关于JTD位6.更新说明
第207页。
7.补充说明对JTAGEN中
233页的表99 。
8.更新绝对最大额定值*和DC的特点
“电气特性中
264页istics “ 。
9.增加了一个建议，关于在JTAG指令IDCODE解决问题
314页上的“勘误” 。
从牧师的变化
1.更新了
310页的“订货信息”
和
在“封装信息”
页311 。
2513C - 9月2日至
牧师2513D - 4月3日
2.更新
第1页上的“功能” 。
3.添加了特性曲线下
页上的“ ATmega162的典型特征”
275.
4.增加了芯片擦除作为下一个第一步
260页的“对Flash进行编程”
和
“ EEPROM编程” 262页。
5.改变CAL7 ，在OSCCAL寄存器的最高位，为保留位上
第39页
而在
304页上的“注册摘要” 。
6.变更为公民教育委员会在CLKPCE
第41页。
7.修正了代码示例上
第55页。
在8更正限时OCn波形
图52第120页。
9.各种小的定时器更正。
10.根据补充说明
224页的“装载临时缓冲器（页加载） ”
关于
在SPM页加载写入EEPROM中。
11.新增部分
“ EEPROM写在掉电休眠模式”第24页。
关于对称PWM定时器0的12新增信息
第98页
和定时器2的
页面
147.
13.更新
表18第48页， 50页的表20 ，表36 77页，表83上
第205页，表109 247页，表112 267页，
和
表113 268页。
14.新增数字
“绝对最大频率为VCC ， ATmega162的一个功能”
在266页。
20
ATmega162/V
2513KS–AVR–07/09
