位置：首页 > IC型号导航 > 首字符A型号页 > 首字符A的型号第826页 > ATF22LV10CQZ-30JC > ATF22LV10CQZ-30JC PDF资料 > ATF22LV10CQZ-30JC PDF资料2第6页
4.4
4.4.1
输入测试波形
输入测试波形和测量水平
4.4.2
输出测试负载
注意：
同类竞争对手的设备指定略有不同的负荷。这些负载差异可能
影响输出的信号“延时和压摆率。爱特梅尔的设备有足够的利润，以满足测试
兼容设备规格的条件。
4.5
引脚电容
表4-1 。
引脚电容（ F = 1MHz时， T = 25℃
(1)
)
典型值
C
IN
C
I / O
注意：
5
6
最大
8
8
单位
pF
pF
条件
V
IN
= 0V
V
OUT
= 0V
1.典型值标称电源电压。这个参数只采样和不是100％的
测试。
4.6
上电复位
在ATF22LV10CZ / CQZ寄存器的设计在上电期间复位。在点
从V稍有延迟
CC
交叉V
RST
时，所有寄存器被复位到低状态。输出
状态将取决于缓冲器的极性。
此功能对于状态机初始化的关键。然而，由于异步特性
的重置，以及如何V的不确定性
CC
实际上升起在系统中，满足以下条件
要求：
1. V
CC
崛起必须是单调的，并开始低于0.7V 。
2.时钟必须在t保持稳定
PR
.
3.经T
PR
所有的输入和反馈设置时间必须驱动时钟引脚之前，必须满足
高。
4.7
寄存器输出的预紧力
该ATF22LV10CZ / CQZ的寄存器设置电路允许加载每个寄存器的
具有高或低。此功能将简化测试，因为任何国家可以强制进入
寄存器来控制测试序列。生成一个JEDEC文件预紧时，源文件
6
ATF22LV10C(Q)Z
0779L–PLD–12/05
