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AT91SAM7X512 / 128分之256初步
12.3.2
测试环境
图12-3
示出了测试环境的例子。测试向量发送和解释的TES-
之三。在这个例子中， “板中测试”使用许多JTAG兼容器件的设计。
这些设备可以连接以形成一个扫描链。
图12-3 。
应用测试环境示例
测试适配器
测试仪
JTAG
接口
ICE / JTAG
连接器
芯片
2芯片
AT91SAM7Xxx
芯片1
AT91SAM7Xxx为基础的应用板测试
12.4
调试和测试引脚说明
表12-1 。
引脚名称
调试和测试引脚列表
功能
复位/测试
TYPE
活跃水平
NRST
TST
单片机复位
测试模式选择
ICE和JTAG
输入/输出
输入
低
高
TCK
TDI
TDO
TMS
JTAGSEL
测试时钟
测试数据
测试数据输出
测试模式选择
JTAG选择
调试单元
输入
输入
产量
输入
输入
DRXD
DTXD
调试数据接收
调试数据发送
输入
产量
47
6120H–ATARM–17-Feb-09
