位置:首页 > IC型号导航 > 首字符A型号页 > 首字符A的型号第955页 > ASM3P623S00B > ASM3P623S00B PDF资料 > ASM3P623S00B PDF资料3第8页

2008年5月
修订版0.5
输入输出扭曲
输入
定时- SAFE
产量
ASM3P623S00B/E
测试电路
+3.3V
V
DD
T
SKEW
-
T
SKEW
+
+3.3V
0.1uF
产量
CLKOUT
负载
测试电路
一个时钟周期
N=1
当扩频为ON
例如,
T
SKEW
= ± 0.125为
输入clock12MHz ,转换到
(1 / 12MHz的) * 0.125 = 10.41nS
V
DD
0.1uF
GND
T
SKEW
代表输入输出扭曲
时序- SAFE波形的一个典型例子
输入
输入
CLKOUT与SSOFF
定时- SAFE CLKOUT
时序-SAFE 峰值EMI降低IC
注意:本文档中的信息如有更改,恕不另行通知。
8 15