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SBAS483D - 2009年11月 - 修订2010年4月
表2. LVDS时序跨越采样频率
采样
频率
( Msps的)
230
200
185
160
125
80
建立时间(纳秒)
民
0.85
1.05
1.10
1.60
2.30
4.50
典型值
1.25
1.55
1.70
2.10
3.00
5.20
最大
民
0.35
0.35
0.35
0.35
0.35
0.35
保持时间(纳秒)
典型值
0.60
0.60
0.60
0.60
0.60
0.60
最大
表3. CMOS跨定时取样频率(低延时启用)
定时指定了相对于输出时钟
采样
频率
( Msps的)
200
185
160
125
80
t
格局
(纳秒)
民
1.6
1.8
2.3
3.1
5.4
典型值
2.2
2.4
2.9
3.7
6.0
最大
民
1.8
1.9
2.2
3.2
5.4
t
HOLD
(纳秒)
典型值
2.5
2.7
3.0
4.0
6.0
最大
民
4.0
4.0
4.0
4.0
4.0
t
PDI
(纳秒)
典型值
5.5
5.5
5.5
5.5
5.5
最大
7.0
7.0
7.0
7.0
7.0
表4. CMOS时序跨越采样频率(低延时关闭)
定时指定了相对于输出时钟
采样
频率
( Msps的)
200
185
160
125
80
t
格局
(纳秒)
民
1.0
1.3
1.8
2.5
4.8
典型值
1.6
2.0
2.5
3.2
5.5
最大
民
2.0
2.2
2.5
3.5
5.7
t
HOLD
(纳秒)
典型值
2.8
3.0
3.3
4.3
6.5
最大
民
4.0
4.0
4.0
4.0
4.0
t
PDI
(纳秒)
典型值
5.5
5.5
5.5
5.5
5.5
最大
7.0
7.0
7.0
7.0
7.0
表5. CMOS时序跨越采样频率(低延时启用)
定时指明相对于输入时钟
采样频率
( Msps的)
250
230
200
185
170
t
开始
(纳秒)
民
典型值
最大
1.1
0.7
–0.3
–1
–1.5
民
2.5
2.9
3.5
3.9
4.3
t
DV
(纳秒)
典型值
3.2
3.5
4.2
4.5
5.0
最大
版权所有2009-2010,德州仪器
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