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SBAS483D - 2009年11月 - 修订2010年4月
表2. LVDS时序跨越采样频率
采样
频率
( Msps的)
230
200
185
160
125
80
建立时间(纳秒)
0.85
1.05
1.10
1.60
2.30
4.50
典型值
1.25
1.55
1.70
2.10
3.00
5.20
最大
0.35
0.35
0.35
0.35
0.35
0.35
保持时间(纳秒)
典型值
0.60
0.60
0.60
0.60
0.60
0.60
最大
表3. CMOS跨定时取样频率(低延时启用)
定时指定了相对于输出时钟
采样
频率
( Msps的)
200
185
160
125
80
t
格局
(纳秒)
1.6
1.8
2.3
3.1
5.4
典型值
2.2
2.4
2.9
3.7
6.0
最大
1.8
1.9
2.2
3.2
5.4
t
HOLD
(纳秒)
典型值
2.5
2.7
3.0
4.0
6.0
最大
4.0
4.0
4.0
4.0
4.0
t
PDI
(纳秒)
典型值
5.5
5.5
5.5
5.5
5.5
最大
7.0
7.0
7.0
7.0
7.0
表4. CMOS时序跨越采样频率(低延时关闭)
定时指定了相对于输出时钟
采样
频率
( Msps的)
200
185
160
125
80
t
格局
(纳秒)
1.0
1.3
1.8
2.5
4.8
典型值
1.6
2.0
2.5
3.2
5.5
最大
2.0
2.2
2.5
3.5
5.7
t
HOLD
(纳秒)
典型值
2.8
3.0
3.3
4.3
6.5
最大
4.0
4.0
4.0
4.0
4.0
t
PDI
(纳秒)
典型值
5.5
5.5
5.5
5.5
5.5
最大
7.0
7.0
7.0
7.0
7.0
表5. CMOS时序跨越采样频率(低延时启用)
定时指明相对于输入时钟
采样频率
( Msps的)
250
230
200
185
170
t
开始
(纳秒)
典型值
最大
1.1
0.7
–0.3
–1
–1.5
2.5
2.9
3.5
3.9
4.3
t
DV
(纳秒)
典型值
3.2
3.5
4.2
4.5
5.0
最大
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