IR3521
参数
欠压阈值 - VOUTX
增加
欠压阈值迟滞
输出电压
漏电流
VCCL激活阈值
测试条件
参考VDACx
民
-325
5
典型值
-275
53
150
0
1.73
最大
-225
110
300
10
3.5
单位
mV
mV
mV
A
V
我（ PGOOD ） = 4毫安
V（ PGOOD ） = 5.5V
我（ PGOOD ） = 4mA时V（ PGOOD ） =
300mV
1.60
220
-20
1.8
25
过电压保护（ OVP ）比较器
阈值电
VOUTX阈值电压
在正常OVP解除电压
手术
在动态VID门槛降低
动态VID检测比较器的阈值
传播延迟IIN
比较为V（ VDACx ）
比较为V（ VDACx ）
1.73
260
3
1.85
50
90
1.83
285
25
1.9
75
180
V
mV
mV
V
mV
ns
OVP高压
OVP电高压
传播延迟到OVP
IIN上拉电阻
注1
测量时间从V （ VOUTX ） >
V（ VDACx ） （ 250mV的过载） ，以
V（ IINx ）过渡到> 0.9 *
V（ VCCL ） 。
测量V（ VCCL ） -V （ ROSC / OVP ）
V（ VCCLDRV ） = 1.8V 。措施
V（ VCCL ） -V （ ROSC / OVP ）
测量时间从V （ VOUTX ） >
V（ VDACx ） （ 250mV的过载） ，以
V（ ROSC / OVP）过渡到>1V 。
0
0
150
5
150
200
62.5
89.0
0.40
500
1.2
0
40
93.5
85.0
8.25
1.65
0.99
620
0
（ VCCL
+3.3)(V) / 2
10
1.2
0.2
300
15
250
90
91.5
0.44
700
1.25
1
97.0
89.0
9.5
1.9
1.2
770
5
VC
CL
15
V
V
nS
mV
mV
%
V
uA
V
uA
mA
%
%
%
V
V
mV
uA
V
开放检测线检测
检测线检测活动比较
阈值电压
检测线检测活动比较
失调电压
VOSEN +开放式检测线比较
门槛
VOSEN-开放感线比较
门槛
检测线检测电源电流
V（ VOUTX ） < [V （ VOSENx + ） -
V（ LGND ） ] / 2
比较V（ VCCL ）
29
86.5
0.36
V（ VOUTX ） = 100mV的
200
1.15
-1
10
89.0
81.0
7.0
1.3
0.8
470
-5
3.3
V
3.5
VCCL调节放大器
参考反馈电压
VCCLFB偏置电流
VCCLDRV灌电流
UVLO阈值开始
UVLO停止阈值
迟滞
比较V（ VCCL ）
比较V（ VCCL ）
比较V（ VCCL ）
ENABLE ， PWROK输入
门槛提高
门槛降低
阈值迟滞
偏置电流
PWROK VFIX模式阈值
0V
≤
V（ X）
≤
3.5V ， SVC不能断言
一般
VCCL电源电流
mA
注1 ：
通过设计保证，但在生产中测试
注2 ：
VDACx输出被修整，以弥补错误&放大器
远程检测放大器的输入失调。
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V3.03
