恩智浦半导体
LPC2101/02/03
单芯片16位/ 32位微控制器
表3中。
符号
引脚说明
- 续
针
32
[3]
33
[3]
34
[3]
38
[3]
39
[3]
8
[1]
TYPE
I / O
I
I / O
I
I / O
I
I / O
I
I / O
I
I / O
I
I
描述
P0.22 —
通用输入/输出管脚。
AD0.0 -
ADC 0 ，输入0 。
P0.23 —
通用输入/输出管脚。
AD0.1 -
ADC 0 ，输入1 。
P0.24 —
通用输入/输出管脚。
AD0.2 -
ADC 0 ，输入2 。
P0.25 —
通用输入/输出管脚。
AD0.6 -
ADC 0 ，输入6 。
P0.26 —
通用输入/输出管脚。
AD0.7 -
ADC 0 ，输入7 。
P0.27 —
通用输入/输出管脚。
TRST -
测试复位的JTAG接口。如果DBGSEL为高电平时，该引脚为
自动CON组fi gured与嵌入式ICE （调试模式）的使用。
CAP2.0 -
输入捕捉定时器2 ，通道0 。
P0.28 —
通用输入/输出管脚。
TMS =
测试模式选择为JTAG接口。如果DBGSEL为高电平时，该引脚为
自动CON组fi gured与嵌入式ICE （调试模式）的使用。
CAP2.1 -
输入捕捉定时器2 ，通道1 。
P0.29 —
通用输入/输出管脚。
TCK =
测试时钟为JTAG接口。这个时钟必须比要慢
1
6
的
CPU时钟（ CCLK）用于JTAG接口进行操作。如果DBGSEL为高电平时，此
引脚自动CON连接gured为使用嵌入式ICE （调试模式） 。
CAP2.2 -
输入捕捉定时器2 ，通道2 。
P0.30 —
通用输入/输出管脚。
TDI -
测试数据为JTAG接口。如果DBGSEL为高电平时，该引脚为
自动CON组fi gured与嵌入式ICE （调试模式）的使用。
MAT3.3 -
PWM输出3定时器3 。
P0.31 —
通用输出仅数字引脚。
TDO -
测试数据输出为JTAG接口。如果DBGSEL为高电平时，该引脚为
自动CON组fi gured与嵌入式ICE （调试模式）的使用。
输入到RTC振荡器电路。输入电压不能超过1.8 V.
输出从RTC振荡电路。
返回测试时钟输出：
添加到JTAG端口的额外信号。助攻
当处理器频率变化的同步调试。双向引脚
带内部上拉了起来。
输入到振荡器电路和内部时钟发生器电路。输入电压
必须不超过1.8V。
输出振荡器扩增fi er 。
调试选择：
低电平时，器件正常工作。当外部
拉高复位时， P0.27到P0.31的CON连接gured为JTAG端口，
部分处于调试模式
[9]
。输入，带内部上拉下来。
外部复位输入：
的低电平复位引脚的器件，从而导致I / O端口
和外围功能进入默认状态和处理器来执行
地址0开始TTL与滞后，可承受5V电压。
NXP B.V. 2009保留所有权利。
P0.22/AD0.0
P0.23/AD0.1
P0.24/AD0.2
P0.25/AD0.6
P0.26/AD0.7
P0.27/TRST/
CAP2.0
P0.28/TMS/
CAP2.1
9
[1]
I / O
I
I
P0.29/TCK/
CAP2.2
10
[1]
I / O
I
I
P0.30/TDI/
MAT3.3
15
[1]
I / O
I
O
P0.31/TDO
16
[1]
O
O
RTCX1
RTCX2
RTCK
20
[7][8]
25
[7][8]
26
[7]
I
O
I / O
XTAL1
XTAL2
DBGSEL
11
12
27
I
O
I
RST
6
I
LPC2101_02_03_4
产品数据表
牧师04 - 2009年6月2日
8 37
