AS1110
数据表 - 一个pplication我载文信息
写入到移位寄存器中的最后一个模式将前开始低电流诊断模式被保存，并且可以显示
立即播放的测试已被执行之后。
低电流诊断模式开始在错误侦测模式3个时钟脉冲。然后， OEN应该启用
为
≥2s
进行测试。与OEN的上升沿的LED测试停止，同时LD是高要求的误差模式
可与相应的时钟脉冲来选择。经过LD和OEN变低再之前保存的图案
在输出显示。
随着未来数据输入详细的错误代码将在引脚SDO 。
注意：
SEE
图21
使用外部测试图案的。
图21.低电流诊断模式与外部测试模式 - 64级联AS1110s
低电流诊断模式
显示
Data1
Data2
SDI
外置全1测试图案
T / O或S错误代码
Data0
Data2
O或S错误代码
从测试图
Data3
SDO
全球环境基金
3X时钟
低电流
模式
时钟误差
模式1X / 2X
全球环境基金
温度错误代码
CLK
OEN
1024x
1024x
OEN的上升沿
获取错误状态的
落LD的边缘;注册时出错
被复制到移位寄存器
1024x
LD
当前
≤
100mA
≤
0.8mA
≤
100mA
GEF =全球错误标志
级联设备
级联多个AS1110器件， SDO引脚必须连接到引脚下一AS1110的SDI
（参见图22）。
At
CLK的每个上升沿移位寄存器的最低有效位将被写入到移位寄存器中的下一个AS1110的SDI
链。
注意：
当
n*AS1110
设备是在一个链中，
n*16
需要的时钟脉冲来锁存，在输入数据。
图22.级联AS1110器件
SDI
SDI
AS1110 ＃ 1
SDO
SDI
AS1110 ＃ 2
SDO
SDI
AS1110 ＃ N-1
SDO
CLK
CLK
LD
OEN
LD
OEN
CLK
LD
OEN
CLK
LD
OEN
www.austriamicrosystems.com
修订1.04
18 - 24
