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4 0 M X中的N D 4 2M的X F PG A F A M IL即s
JProbe的注册
边界扫描寄存器
绕行
注册
控制逻辑
JTAG
TMS
TCK
产量
MUX
TDO
TAP控制器
指令
解码
JTAG
TDI
指令
注册
图11 -
42MX IEEE 1149.1边界扫描电路
当设备中的BST模式操作时，四个I / O引脚
用于TDI， TDO，TMS和TCK信号。一个活跃
复位（ nTRST信号）引脚不支持;然而， 42MX
器件包含上电电路，复位边界
在上电时的扫描电路。
表1
总结
在IEEE 1149.1的BST信号的功能。
表1 -
IEEE 1149.1 BST信号
信号
TDI
名字
测试数据
功能
串行数据输入BST
指令和数据。数据
上的上升沿移位
TCK 。
串行数据输出BST
指令和测试数据。
串行数据输入，用于BST模式。
数据移入在上升
TCK的边缘。
时钟信号转移BST
数据插入设备。
JTAG熔丝编程：
TCK必须终止逻辑高或低不
事（避免浮动输入）
TDI ， TMS可以漂浮或逻辑高电平（内部上拉为
至今）
TDO可以浮动或连接到另一台设备的TDI （这是一个
输出）
JTAG熔丝没有编程：
TCK ， TDI ， TDO ， TMS是用户I / O 。如果不使用，它们将
配置为三态输出。
BST说明
TDO
TMS
测试数据
OUT
测试模式
SELECT
测试时钟
TCK
在42MX设备中边界扫描测试控制
由测试访问端口（ TAP ）状态机。技术咨询
控制器驱动的3位的指令寄存器，旁路
注册，并在该边界扫描数据寄存器
装置。 TAP控制器使用TMS的信号来控制
该装置的测试。在BST模式由下式确定
比特流进入TMS管脚。
表2
描述
测试指令支持的42MX设备。
RESET
JTAG
所有的SX -A器件的IEEE 1149.1 （ JTAG ）标准。 SX -A
器件提供了卓越的诊断和测试能力
提供JTAG和探测capabilites 。这些功能
通过特殊的JTAG管脚一起被控制
与该程序的保险丝。
TMS引脚配有一个内部上拉电阻。
这使TAP控制器将保持在或返回到
测试逻辑复位状态，当没有输入或当
逻辑1是在TMS管脚上。要复位控制器， TMS
必须为高电平至少五TCK周期。
v5.0
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