光宝科技股份有限公司
精简版，关于财产只有
局部放电试验方法
方法（一）对型式试验，随机测试。
V
V
intial
V
pr
V
IORM
t1, t2
= 1至10秒
t3, t4
= 1s
TP （局部放电测量时间） = 60
tb
= 62s
TINI
= 10s
t3
t1 t
INI
t2
tp
tb
t4
t
方法（ B）进行常规检测。
V
V
pr
V
IORM
t3, t4
= 0.1s
TP （局部放电测量时间） = 1秒
tb
= 1.2s
t3
tp
tb
t4
t
在局部放电测量时间的局部放电水平应不超过5件
间隔t
p
根据以上所示的试验条件。
产品型号
:
LTV816 /八百四十六分之八百二十六（M ， S， STA1 ） -V
BNS-OD-C131/A4
页面
:
12 15
