AD5748
0.10
0.08
0.06
0.04
+ 4 + 20毫安外部R
SET
正TUE
0mA至+ 20毫安外部R
SET
正TUE
+ 4 + 20毫安外部R
SET
负TUE
0mA至+ 20毫安外部R
SET
负TUE
0.010
0.008
0.006
0.004
+ 4 + 20毫安外部R
SET
线性
0mA至+ 20毫安外部R
SET
线性
TUE （ ％ FSR ）
0
–0.02
–0.04
–0.06
–0.08
+11.2/–10.8
±15.0
±24.0
±26.4
08922-030
INL （ ％ FSR ）
0.02
0.002
0
–0.002
–0.004
–0.006
-0.008 AV
DD
= +24V
AV
SS
= –24V
–0.010
–40
25
温度（℃）
105
电源电压（AV
DD
/ AV
SS
)
图30.总非调整误差电流模式，外置R
SET
检测电阻器
0.10
0.08
0.06
0.04
+ 4 + 20毫安内部研发
SET
正TUE
0mA至+ 20毫安内部研发
SET
正TUE
+ 4 + 20毫安内部研发
SET
负TUE
0mA至+ 20毫安内部研发
SET
负TUE
图33. INL与温度，外置R
SET
检测电阻器
0.10
0.08
0.06
0.04
+ 4 + 20毫安内部研发
SET
正TUE
0mA至+ 20毫安内部研发
SET
正TUE
+ 4 + 20毫安内部研发
SET
负TUE
0mA至+ 20毫安内部研发
SET
负TUE
TUE （ ％ FSR ）
TUE （ ％ FSR ）
0.02
0
–0.02
–0.04
–0.06
–0.08
+11.2/–10.8
±15.0
±24.0
±26.4
08922-031
0.02
0
–0.02
–0.04
–0.06
–0.08
08922-034
08922-035
–0.10
–0.10
–40
25
温度（℃）
105
电源电压（AV
DD
/ AV
SS
)
图31.总非调整误差电流模式，内部研发
SET
检测电阻器
0.010
0.008
0.006
0.004
+ 4 + 20毫安内部研发
SET
线性
0mA至+ 20毫安内部研发
SET
线性
图34.总非调整误差与温度的关系，内部研发
SET
检测电阻器
0.10
0.08
0.06
0.04
TUE （ ％ FSR ）
+ 4 + 20毫安外部R
SET
正TUE
0mA至+ 20毫安外部R
SET
正TUE
+ 4 + 20毫安外部R
SET
负TUE
0mA至+ 20毫安外部R
SET
负TUE
INL （ ％ FSR ）
0.002
0
–0.002
–0.004
–0.006
-0.008 AV
DD
= +24V
AV
SS
= –24V
–0.010
–40
0.02
0
–0.02
–0.04
–0.06
–0.08
08922-032
–0.10
–40
25
温度（℃）
105
25
温度（℃）
105
图32. INL与温度的关系，内部研发
SET
检测电阻器
图35.总非调整误差与温度的关系，外置R
SET
检测电阻器
版本A |第17页32
08922-033
–0.10
