SCAN926260
引脚名称
TYPE
3.3V CMOS
输入
3.3V CMOS
输入
3.3V CMOS
输入
3.3V CMOS
输入
3.3V CMOS
产量
3.3V CMOS
输入
引脚
描述
测试模式选择输入，支持IEEE 1149.1 。有一个弱
在TMS内部上拉的默认TRST ， TDI ， TCK和TDO
处于非活动状态。然而，在嘈杂的环境中，拉TMS高
确保JTAG测试访问端口（TAP ）是从来没有被激活。
测试复位输入，支持IEEE 1149.1 。有一个内部弱
拉该引脚上。
测试数据输入，支持IEEE 1149.1 。有一个内部弱
拉该引脚上。
测试时钟，支持IEEE 1149.1
测试数据输出，支持IEEE 1149.1 。
BIST当家错误报告模式选择输入。
这些引脚控制哪些渠道是活动的BIST当家
操作模式。该BIST当家模式选择表介绍
它们的功能。有内部上拉电阻的所有默认
BIST_SEL [0： 2]的高，这是闲置状态中的所有信道
在BIST独立模式。
该引脚上的高激活BIST单独运行模式。那里
是一个内部弱上拉下来应该默认BIST_ACT到
去激活所述BIST单独的操作模式。在嘈杂的工作
环境中，则建议使用外部上拉下来是
用于确保BIST_ACT保持在低状态。
未使用的焊锡球的位置。不要连接。
TMS
C1
TRST
TDI
TCK
TDO
BISTMODE_REQ
C2
D1
D2
D3
B10
BIST_SEL [0： 2]
3.3V CMOS
输入
C14 ，D8， D14
BIST_ACT
3.3V CMOS
输入
K11
N / C
B13 ， C13
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