ADF7021-V
注册14 -TEST DAC寄存器
PULSE ？
延期
ED_PEAK_
响应
ED_LEAK_
因素
TEST_
TDAC_EN
地址
位
TEST_DAC_GAIN
TEST_DAC_OFFSET
DB31
DB30
DB29
DB28
DB27
DB26
DB25
DB24
DB23
DB22
DB21
至16 DB20
至15 DB19
TO14 DB18
TO13 DB17
TO12 DB16
TO11 DB15
TO10 DB14
DB13
DB12
DB11
DB10
DB9
DB8
DB7
DB6
DB5
DB4
DB3
DB2
DB1
C2 (1)
C4 (1)
C3 (1)
EFX
0
1
2
3
4
5
6
7
ED_LEAK_FACTOR
泄漏=
2^–8
2^–9
2^–10
2^–11
2^–12
2^–13
2^–14
2^–15
ERX PULSE_EXTENSION
0
1
2
3
没有脉搏推广
延长了1
延长2
延长3
TGX
0
1
...
15
TEST_DAC_GAIN
没有收获
× 2^1
...
× 2^15
TE1
0
1
TEST_TDAC_EN
测试DAC禁用
测试DAC启用
PEX
0
1
2
3
ED_PEAK_RESPONSE
充分反应峰值
0.5响应峰值
0.25响应峰值
0.125响应峰值
C1 (0)
08635-075
TG4
TG3
TG2
TG1
TO9
TO8
TO7
TO6
TO5
TO4
TO3
TO2
TO1
ER2
ER1
PE2
PE1
图76.注册14 -测试DAC寄存器映射
该解调器调整参数， PULSE_EXTENSION ，
ED_LEAK_FACTOR和ED_PEAK_RESPONSE ，可以是
[： DB4 DB7 ]以0x9只能通过设置寄存器15位启用。
使用片上测试DAC
芯片上的测试DAC可用于实现模拟
解调或提供接入FSK测量
解调器输出信噪比和CNR 。有关详细信息，
有关使用测试DAC ，请参阅AN- 852应用笔记。
该测试DAC允许两个postdemodulator滤波器输出
线性和相关的解调器，以从外部被观看。该
测试DAC也需要16位的滤波器输出并将其转换为一个
频率高，单比特输出，使用第二阶，错误
反馈Σ - Δ转换器。输出可以在SWD观看
引脚。这个信号，适当滤波时，可以被用来
请执行下列操作：
监测的FSK postdemodulator过滤器的信号
输出。这使得解调器输出的信噪比为
测量。接收到的比特流的眼图可以
也被构造成测量所接收到的信号质量。
提供模拟FM解调。
而相关器和过滤器的时钟由解调CLK ，
测试DAC的时钟由CDR CLK 。注意，尽管该测试
在普通用户模式下的DAC功能，性能最好的
取得时的CDR CLK被增加到或以上的频率
的解调CLK 。该CDR块不起作用时，这
条件存在。
编程寄存器14使测试DAC 。无论是线性
和相关解调器的输出可被复用成
该DAC 。
寄存器14允许一个固定的偏移项可以从除去
信号（除去中频分量中的线性解调器
情况）。它也有一个信号的增益项，以允许的用法
DAC的最大动态范围。
第0版|页58 60
TE1
EF3
EF2
EF1
DB0
