ISLA112P50
的设置这些选项是从另一不同
寄存器。
读
output_mode_B
0x74
读
config_status
0x75
所需
价值
地址为0xC2 ： user_patt1_lsb
地址0xC3 ： user_patt1_msb
这些寄存器定义下部和上部8位
所述第一用户定义的测试字的分别。
地址0XC4 ： USER_PATT2_LSB
写
0x74
地址0XC5 ： USER_PATT2_MSB
这些寄存器定义下部和上部8位
所述第二用户定义的测试字的分别。
数字温度传感器
这组寄存器提供的数字访问一个
IPTAT基于温度传感器，使系统
估计管芯的温度。这个信息是
对于不保持I2E应用特别感兴趣的
在活动状态下运行时，在正常使用时，可方便
获得的信息，可以被用来决定何时
根据需要重新校准的A / D转换。这组寄存器是不
包括在SPI存储器映射表。
此信息的最准确的使用需要
温度的知识，在其中数字值
首先读（时间= 0，T （0）=摄氏度在时间= 0时，和
register_value （ 0）=温度的数字值
在时间寄存器= 0）。寄存器的任何未来的阅读
表示根据等式4的温度变化率：
[
register_value(1)
]
–
[
register_value(0)
]
-
ΔT
=
T
(
1
)
–
T
(
0
)
= ----------------------------------------------------------------------------------------------------------------
[ (
T
(
0
)
–
216
)
256
]
（公式4），
图45.设置output_mode_B寄存器
用于设定output_mode_B过程示于
图45.阅读output_mode_B的内容，并
config_status和XOR他们。那么这个异或结果与
对于output_mode_B和所需的值写入该异或
结果到寄存器。
设备测试
该ISLA112P50可以产生预置或用户定义
在数字输出模式，以便在现场测试。
静态字可以被放置在输出总线上，或者两个
不同的词可以交替。在备用模式中，
定义为字1字2的值（如图
表14）的输出总线上的交替的时钟设置
阶段。测试模式被使能异步地向
采样时钟，因此数个采样时钟周期可能
经过之前的数据是存在于输出总线上。
地址为0xC0 ： TEST_IO
位7 ： 6
用户测试模式
这些位设置测试模式为静态（ 0x00），或是
备用（ 0x01）的模式。其他值保留。
四个LSB此寄存器（输出测试模式）
确定组合的测试图案与寄存器
为0xC2通过0xC5 。请参见“SPI存储器映射”上
第28页。
表14.输出测试模式
为0xC0 [3：0 ]
输出测试
模式
关闭
中间电平
正满量程
负满量程
棋盘
版权所有
版权所有
一/零
用户模式
0x8000
0xFFFF
0x0000
0xAAAA
不适用
不适用
0xFFFF
user_patt1
不适用
不适用
不适用
0x5555
不适用
不适用
0x0000
user_patt2
评估的温度不准确的方法
变化不要求温度的知识
在时间= 0 ，并且由下式给出方程（5） ：
[
register_value(1)
]
–
[
register_value(0)
]
-
ΔT
=
T
(
1
)
–
T
(
0
)
= ----------------------------------------------------------------------------------------------------------------
(
-0.72
)
（当量5）
数字温度传感器的弱功能
AVDD电源电压，从而实现最佳的精度
AVDD电源电压应保持相对稳定
横跨operarating温度范围。
访问此寄存器集的算法如下：
1.写0x80的值变址寄存器（ SPI
地址为0x10 ）
2.写值均为0x88到SPI地址0x120转
上的温度传感器。
3.阅读register_value最低有效位在SPI寄存器0x11E
4.阅读register_value最高位在SPI寄存器0x11F
5.写入值从0x60到SPI地址0x120转
温度传感器关闭。
价值
0000
0001
0010
0011
0100
0101
0110
0111
1000
WORD 1
WORD 2
27
FN7604.1
2010年6月17日
