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HSP50210
电气规格
V
CC
= 5.0V ±5％ ，T
A
= 0 ° C至+ 70°C （商业） ，T
A
= -40 ° C至+ 85°C （工业级） ， （注11 ）
与参数
MIN和/或最大限制是100％测试在+ 25 ℃，除非另有规定。温度限制
特征值，不是生产测试。 （续）
52MHz
参数
建立时间IIN9-0 ， QIN9-0 ， SYNC ， FZ_CT ， FZ_ST到CLK
保持时间IIN9-0 ， QIN9-0 ， SYNC ， FZ_CT ， FZ_ST从CLK
建立时间ISER ， QSER ， SSYNC到SERCLK
保持时间ISER ， QSER ， SSYNC从SERCLK
建立时间A0-2 ， C0-7到WR的上升沿
保持时间A0-2 ， C0-7从WR的上升沿
WR为CLK
SERCLK到CLK
CLK到AOUT9-0 ， BOUT9-0 ， COF ， COFSYNC ， SOF ， SOFSYNC ，
SMBLCLK ， HI / LO ， SLOCLK ， LKINT ， THRES
读地址低到数据有效
CLK到输出的C0-7状态
WR高
WR低
RD低
RD低到数据有效
RD高到输出禁止
OUTPUT ENABLE
输出禁止时间
输出上升，下降时间
注意事项：
11.交流测试用C进行
L
= 40 pF的，我
OL
= 2毫安，我
OH
= -400mA 。为CLK输入参考电平为2.0V ，其他所有输入1.5V 。
测试V
IH
= 3.0V, V
IHC
= 4.0V, V
IL
= 0V.
通过设计或工艺参数12.控制，而不是直接测试。在初始设计和主要过程和/或设计后其特征
变化。
13.必须确保WR或SERCLK采取行动建立时间会由特定的CLK可以看出。
符号
t
DS
t
DH
t
DSS
t
DSH
t
WS
t
WH
t
WC
t
SC
t
DO
t
ADO
t
CDO
t
WRH
t
WRL
t
RL
t
RDO
t
ROD
t
OE
t
OD
t
RF
民
8
1
8
0
15
0
15
10
-
最大
-
-
-
-
-
-
-
-
8
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns（注13 ）
ns（注13 ）
ns
-
-
16
16
16
-
-
-
-
-
26
15
-
-
-
15
10
8
8
5
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns（注12 ）
ns
ns（注12 ）
ns（注12 ）
AC测试负载电路
S1
DUT
C
L
±
IOH
1.5V
IOL
开关S1 OPEN FOR I
CCSB
我
CCOP
等效电路
测试头电容。
49
FN3652.5
2008年7月2日
